[实用新型]VDMOS垂直栅场效应晶体管的电容稳定性检测装置有效
申请号: | 201821672577.7 | 申请日: | 2018-10-15 |
公开(公告)号: | CN208921832U | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 范捷;万立宏;王绍荣 | 申请(专利权)人: | 江苏丽隽功率半导体有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/02 |
代理公司: | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 冯智文 |
地址: | 214067 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 履带 检测装置 啮合连接 履带轮 场效应晶体管 本实用新型 电容稳定性 主动履带轮 滑动连接 旋转偏移 运输机构 装置外壳 垂直栅 套杆 电动伸缩杆 电机主轴 转向定位 定位杆 电容 电机 检测 | ||
本实用新型涉及检测装置技术领域,尤其为VDMOS垂直栅场效应晶体管的电容稳定性检测装置,包括装置外壳、第一履带和二级运输机构,所述装置外壳内侧设有第一电机,所述第一电机主轴末端固定连接有旋转偏移套杆,所述旋转偏移套杆外侧滑动连接有第一主动履带轮,所述第一主动履带轮外侧啮合连接有第一履带,所述第一履带内侧啮合连接有转向定位履带轮,所述第一履带另一端啮合连接有第一从动履带轮,所述第一从动履带轮内侧滑动连接有第二定位杆;本实用新型中,通过设置的电动伸缩杆和二级运输机构,实现了对检测完毕的电容分别处理的效果,提高了装置的实用性,具有巨大的经济效益和广泛的市场前景,值得推广使用。
技术领域
本实用新型涉及检测装置技术领域,具体为VDMOS垂直栅场效应晶体管的电容稳定性检测装置。
背景技术
VDMOS垂直栅场效应晶体管的电容稳定性检测装置使主要针对VDMOS垂直栅场效应晶体管推出的一种电容稳定性检测装置,该装置通过加电压,加热等各种方式可以检测VDMOS垂直栅场效应晶体管的各项电容稳定性指标。
现有的检测装置在检测完毕后将检测结果直接显示在外部显示屏上,并由工作人员剔除不合格产品,这样十分耗费人力,且增加了检测成本,装置不具备实用性,且装置在检测前需操作员将晶体管摆正位置方能准确检测,对摆放的精确度要求较高,不具备检测的准确性,因此,针对上述问题提出VDMOS垂直栅场效应晶体管的电容稳定性检测装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供VDMOS垂直栅场效应晶体管的电容稳定性检测装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
VDMOS垂直栅场效应晶体管的电容稳定性检测装置,包括装置外壳、第一履带和二级运输机构,所述装置外壳顶端连通有引风机,所述引风机输出端设有电流控制器,所述电流控制器右端固定连接有电阻丝,所述引风机输出端连通有导流管,所述装置外壳顶端内侧固定连接有红外测温传感器,所述装置外壳左侧开有投料口,所述投料口右侧设有投料滑道,所述装置外壳内侧设有第一电机,所述第一电机主轴末端固定连接有旋转偏移套杆,所述旋转偏移套杆一端固定连接有转动控制杆,所述转动控制杆外侧滑动连接有复位弹簧,所述旋转偏移套杆另一端固定连接有偏移控制环,所述旋转偏移套杆外侧滑动连接有第一主动履带轮,所述第一主动履带轮外侧啮合连接有第一履带,所述第一履带内侧啮合连接有转向定位履带轮,所述转向定位履带轮内侧转动连接有第一定位杆,所述第一履带另一端啮合连接有第一从动履带轮,所述第一从动履带轮内侧滑动连接有第二定位杆,所述第二定位杆两端均转动连接有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆底端设有控制器,所述装置外壳内侧设有二级运输机构,所述二级运输机构包括第二电机、第三定位杆、第二主动履带轮、第二履带、第二从动履带轮和第四定位杆,所述装置外壳内侧设有第二电机,所述第二电机主轴末端固定连接有第三定位杆,所述第三定位杆外侧固定连接有第二主动履带轮,所述第二主动履带轮外侧啮合连接有第二履带,所述第二履带另一端啮合连接有第二从动履带轮,所述第二从动履带轮内侧滑动连接有第四定位杆,上端所述二级运输机构右端设有合格品收集篮,下端所述二级运输机构右端设有残次品收集篮。
优选的,所述第一履带中间开有限位运输槽,且限位运输槽与导流管、红外测温传感器位置上下对应。
优选的,所述二级运输机构个数为2个,且2个二级运输机构呈上下对应设置。
优选的,所述第一主动履带轮与旋转偏移套杆相邻一端开有推进槽,且推进槽内滑动设置有转动控制杆,所述偏移控制环与第一主动履带轮相邻一侧横截面均为波浪形,且偏移控制环与第一主动履带轮互相契合。
优选的,所述红外测温传感器与控制器、电动伸缩杆依次电性连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏丽隽功率半导体有限公司,未经江苏丽隽功率半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821672577.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种K系数测试装置
- 下一篇:一种用于线路板的电压测试治具