[实用新型]一种半导体封装结构有效

专利信息
申请号: 201821531563.3 申请日: 2018-09-19
公开(公告)号: CN208622713U 公开(公告)日: 2019-03-19
发明(设计)人: 江子标;朱耀明 申请(专利权)人: 深圳铨力半导体有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518108 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 凸块 芯片 焊点 半导体封装结构 本实用新型 金属布线层 互联结构 封装体 封装 半导体 封装体顶端 朝上设置 倒装焊接 封装结构 工作效率 制作方便 底端面 电连接 输出端 塑封层 中芯片 打线 底端 裸露 伸出 体内 覆盖 制作 保证
【权利要求书】:

1.一种半导体封装结构,其特征在于:包括封装体以及设置在封装体内的半导体互联结构;所述半导体互联结构包括相互之间平行设置、且垂直于封装体底端面的若干第一凸块(7)和第二凸块(5),第一凸块和第二凸块的底端伸出封装体底端面;所述第二凸块的顶端倒装焊接第一芯片(1),第二凸块(5)的数量与第一芯片的焊点数量及位置均相对应;第一芯片的顶端面上粘附有第二芯片(2),第二芯片的焊点朝上设置;所述第二凸块的顶端与第二芯片的焊点之间通过金属布线层(6)电连接,所述金属布线层裸露于封装体顶端面设置并通过塑封层覆盖。

2.根据权利要求1所述的一种半导体封装结构,其特征在于:所述第一凸块(7)围设在所有第二凸块(5)的外围。

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