[实用新型]一种晶片自动检测装置有效
申请号: | 201821484178.8 | 申请日: | 2018-09-11 |
公开(公告)号: | CN208780235U | 公开(公告)日: | 2019-04-23 |
发明(设计)人: | 杨娅;刘丽梅;曾繁春 | 申请(专利权)人: | 深圳连硕自动化科技有限公司 |
主分类号: | G01D21/00 | 分类号: | G01D21/00 |
代理公司: | 深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙) 44451 | 代理人: | 罗志伟 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动检测装置 横移滑块 横移驱动机构 本实用新型 横移滑轨 横移支架 升降机构 升降支架 输送机构 连接板 种晶 顶升机构 工作效率 晶片检测 占用空间 滑动 检测 晶片 驱动 | ||
本实用新型适用于晶片检测技术领域,提供了一种晶片自动检测装置,包括横移支架,所述横移支架上设有横移滑轨、横移滑块以及横移驱动机构,所述横移驱动机构驱动所述横移滑块沿所述横移滑轨滑动,所述横移滑块上设有升降支架,所述升降支架上设有升降机构,所述升降机构上设有连接板,所述连接板上设有检测机构,所述检测机构下方设有输送机构,所述输送机构上设有顶升机构,本实用新型的晶片自动检测装置减少了占用空间;缩短了检测时间,从而提高了工作效率;降低了检测成本。
技术领域
本实用新型属于晶片检测技术领域,尤其涉及一种晶片自动检测装置。
背景技术
晶片是LED最主要的原物料之一,LED主要依靠晶片来发光。是LED的发光部件,LED最核心的部分,晶片的好坏将直接决定LED的性能。现有晶片自动检测装置主要由检测机构、输送线、弹夹进出升降机构、分离机构组成;检测机构与分离机构需要两套横移模组和两套升降模组来完成,这样会占有很大的操作空间,且检测时间长,降低了工作效率,增加了检测成本。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种晶片自动检测装置,旨在解决现有的晶片检测装置占用空间大;检测时间长,降低了工作效率;增加了检测成本的问题。
本实用新型是这样实现的,一种晶片自动检测装置,包括横移支架,所述横移支架上设有横移滑轨、横移滑块以及横移驱动机构,所述横移驱动机构驱动所述横移滑块沿所述横移滑轨滑动,所述横移滑块上设有升降支架,所述升降支架上设有升降机构,所述升降机构上设有连接板,所述连接板上设有检测机构,所述检测机构下方设有输送机构,所述输送机构上设有顶升机构,所述检测机构包括通过固定支架与所述连接板连接的固定板、安装在所述固定支架上的分离气缸、位于所述固定板下方且与所述分离气缸连接的分离机构、安装在所述固定板上的压紧机构、位于所述分离机构下方且与所述压紧机构连接的压板以及设置在所述固定板四周的多个吸盘。
本实用新型的进一步技术方案是:所述压紧机构包括升降板、设置在所述升降板上的压紧气缸以及导柱,所述压紧气缸下端与所述固定板连接,所述导柱一端与所述升降板连接,所述导柱另一端穿过所述固定板且与所述压板连接,所述导柱与所述固定板之间设有导套,所述导柱上套设有弹簧,所述弹簧一端与所述导套底端连接,所述弹簧另一端与所述压板连接。
本实用新型的进一步技术方案是:所述压紧机构有两组,分别位于所述连接板两侧。
本实用新型的进一步技术方案是:所述顶升机构包括设置在所述输送机构上的底座、设置在所述底座上的顶升气缸以及通过轴套与所述底座连接的导向轴,所述导向轴上端设有顶料板。
本实用新型的进一步技术方案是:所述顶料板两端均设有凸块。
本实用新型的进一步技术方案是:所述升降机构包括垂直滑轨、垂直滑块以及垂直驱动机构,所述垂直驱动机构驱动所述垂直滑块沿所述垂直滑轨滑动,所述连接板与所述垂直滑块连接。
本实用新型的进一步技术方案是:所述分离机构包括分离框架以及安装在所述分离框架上的分离盖板,所述分离气缸与所述分离盖板连接。
本实用新型的进一步技术方案是:所述固定板中部设有通孔,所述分离气缸穿过所述通孔与所述分离盖板连接。
本实用新型的进一步技术方案是:该晶片自动检测装置还包括自动上料回料机,所述自动上料回料机位于所述输送机构一端。
本实用新型的进一步技术方案是:所述吸盘有4个,分别设置在所述固定板的四周。
本实用新型的有益效果是:本实用新型的晶片自动检测装置减少了占用空间;缩短了检测时间,从而提高了工作效率;降低了检测成本。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的晶片自动检测装置的结构示意图;
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