[实用新型]一种晶片自动检测装置

权利要求书

1.一种晶片自动检测装置，其特征在于：包括横移支架，所述横移支架上设有横移滑轨、横移滑块以及横移驱动机构，所述横移驱动机构驱动所述横移滑块沿所述横移滑轨滑动，所述横移滑块上设有升降支架，所述升降支架上设有升降机构，所述升降机构上设有连接板，所述连接板上设有检测机构，所述检测机构下方设有输送机构，所述输送机构上设有顶升机构，所述检测机构包括通过固定支架与所述连接板连接的固定板、安装在所述固定支架上的分离气缸、位于所述固定板下方且与所述分离气缸连接的分离机构、安装在所述固定板上的压紧机构、位于所述分离机构下方且与所述压紧机构连接的压板以及设置在所述固定板四周的多个吸盘。

2.根据权利要求1所述的晶片自动检测装置，其特征在于，所述压紧机构包括升降板、设置在所述升降板上的压紧气缸以及导柱，所述压紧气缸下端与所述固定板连接，所述导柱一端与所述升降板连接，所述导柱另一端穿过所述固定板且与所述压板连接，所述导柱与所述固定板之间设有导套，所述导柱上套设有弹簧，所述弹簧一端与所述导套底端连接，所述弹簧另一端与所述压板连接。

3.根据权利要求2所述的晶片自动检测装置，其特征在于，所述压紧机构有两组，分别位于所述连接板两侧。

4.根据权利要求1所述的晶片自动检测装置，其特征在于，所述顶升机构包括设置在所述输送机构上的底座、设置在所述底座上的顶升气缸以及通过轴套与所述底座连接的导向轴，所述导向轴上端设有顶料板。

5.根据权利要求4所述的晶片自动检测装置，其特征在于，所述顶料板两端均设有凸块。

6.根据权利要求1所述的晶片自动检测装置，其特征在于，所述升降机构包括垂直滑轨、垂直滑块以及垂直驱动机构，所述垂直驱动机构驱动所述垂直滑块沿所述垂直滑轨滑动，所述连接板与所述垂直滑块连接。

7.根据权利要求1所述的晶片自动检测装置，其特征在于，所述分离机构包括分离框架以及安装在所述分离框架上的分离盖板，所述分离气缸与所述分离盖板连接。

8.根据权利要求7所述的晶片自动检测装置，其特征在于，所述固定板中部设有通孔，所述分离气缸穿过所述通孔与所述分离盖板连接。

9.根据权利要求1所述的晶片自动检测装置，其特征在于，该晶片自动检测装置还包括自动上料回料机，所述自动上料回料机位于所述输送机构一端。

10.根据权利要求1所述的晶片自动检测装置，其特征在于，所述吸盘有4个，分别设置在所述固定板的四周。