[实用新型]一种吸芯顶针机构有效
申请号: | 201821447142.2 | 申请日: | 2018-09-05 |
公开(公告)号: | CN208819853U | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 曹文文;陈志远;聂伟;姜红涛;丁培杰 | 申请(专利权)人: | 江苏汇成光电有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 董旭东 |
地址: | 225128 江苏省扬州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 顶针 芯片 中心顶针 顶针帽 本实用新型 顶针机构 筒形侧面 顶针孔 胶膜 吸芯 支撑 升降驱动机构 顶针排列 芯片边缘 芯片放置 芯片接触 左右两侧 支撑面 取放 穿过 | ||
本实用新型公开了芯片取放领域内的一种吸芯顶针机构,包括芯片,芯片放置在胶膜上,芯片上方设有吸晶机构,胶膜下方设有顶针帽,顶针帽包括筒形侧面,筒形侧面顶部设有支撑面,支撑面上设置有若干顶针孔,支撑面的直径为35~36mm,顶针帽内部设有顶针夹,顶针夹顶部设有至少一排顶针,顶针夹沿顶针排列方向的长度为26~27mm,顶针夹的中部设有中心顶针,中心顶针的两侧均设有辅助顶针,顶针夹的左右两侧均设置有一组侧顶针,各顶针穿过顶针孔后与芯片接触,中心顶针、辅助顶针均与芯片中部接触,侧顶针与芯片边缘接触;顶针夹下方设有升降驱动机构。本实用新型能够作业于长度为27~36mm的芯片,芯片获得较好的支撑,形成完整的真空度,避免飞晶。
技术领域
本实用新型属于芯片取放领域,特别涉及一种吸芯顶针机构。
背景技术
现有技术中, 晶圆经过切割后,即进行黏晶的程序。此时每个晶粒 (或称芯片)相互之间为完全分离,且分别独立黏着于具有黏性的胶膜上。晶粒取放机台在吸取晶粒时,其于晶粒上方以一真空吸嘴吸取晶粒,同时胶膜下方将受到一顶针的推顶作用,而将晶粒顶出胶膜,以利真空吸嘴吸取晶粒,再经由机械动作,将晶粒置放于晶粒座上。其不足之处在于:芯片取放机构只能作业于芯片长度小于27mm的产品,作业长度大于27mm的芯片时,具有吸芯不成功、断晶的风险。对于长度大于27mm的芯片,之前的取放机构不能完全支撑,芯片的边缘脱离支撑面,导致机台真空不能正常建立,会有飞晶的现象。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种吸芯顶针机构,能够作业于长度为27~36mm的芯片,芯片获得较好的支撑,形成完整的真空度,避免飞晶,防止机台报警。
本实用新型的目的是这样实现的:一种吸芯顶针机构,包括芯片,芯片放置在胶膜上,芯片上方设置有吸晶机构,所述胶膜下方设置有顶针帽,所述顶针帽包括筒形侧面,筒形侧面顶部设有与胶膜接触的圆形支撑面,所述支撑面上设置有若干顶针孔,所述支撑面的直径为35~36mm,顶针帽内部设置有顶针夹,顶针夹顶部设有至少一排顶针,顶针夹沿顶针排列方向的长度为26~27mm,顶针夹的中部设有中心顶针,中心顶针的两侧均设有辅助顶针,顶针夹的左右两侧均设置有一组侧顶针,各顶针穿过对应顶针孔后与芯片接触,所述中心顶针、辅助顶针均与芯片中部接触,所述侧顶针与芯片边缘接触;所述顶针夹下方设有升降驱动机构。
本实用新型工作时,芯片完全支撑在顶针帽支撑面上,升降驱动机构带动顶针夹上下移动,各顶针向上移动穿过对应顶针孔,中心顶针顶住芯片中心,2个辅助顶针和中心顶针形成一个顶起面,将芯片中部顶住,侧顶针顶住芯片边缘,将芯片顶起,吸晶机构将芯片吸住,芯片与胶膜完全分离,完成吸晶,避免飞晶,导致机台报警。与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于:顶针帽支撑面可以对长度超过27mm的芯片形成良好的支撑;中心顶针、辅助顶针和侧顶针同时作用,将芯片顶起,防止芯片两侧粘在胶膜上,顺利吸晶。
作为本实用新型的进一步改进,所述支撑面上设置有2排沿直径方向排列的顶针孔,2排顶针孔的排列方向相垂直。芯片处于在两个不同的方向时,顶针夹上的顶针都可以将芯片顶起。
作为本实用新型的进一步改进,每排所述顶针孔包括中心孔,中心孔的轴线通过支撑面的圆心,中心孔的左右两侧均设置有至少6个侧面孔,相邻侧面孔之间的距离从支撑面圆心向支撑面边缘递增。侧顶针从侧面孔穿过,靠近支撑面边缘的两侧顶针之间的距离较大,可以对芯片边缘提供更好的顶起支撑作用,确保芯片不会粘在胶膜上。
作为本实用新型的进一步改进,所述顶针帽的支撑面上还布满若干均匀分布的真空孔。支撑面上的真空孔较多,形成的真空度较大,对胶膜的吸附性较好,形成完整的真空度。
作为本实用新型的进一步改进,所述顶针帽筒形侧面的内壁设有橡胶圈。
作为本实用新型的进一步改进,所述吸晶机构为真空吸嘴。
作为本实用新型的进一步改进,所述升降驱动机构为气缸、丝杠螺母组件或直线电机。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造