[实用新型]一种毛刺检测机构有效
申请号: | 201821402070.X | 申请日: | 2018-08-28 |
公开(公告)号: | CN208705242U | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 何东坡;陈勇;康楠 | 申请(专利权)人: | 苏州嘉斯度智能装备有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01B11/00 |
代理公司: | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人: | 杜丹盛 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 机台 垂直向 旋转轴 检具 光柱 毛刺 夹爪气缸 上下气缸 安装座 固定座 输出端 轴向孔 机座 检测 孔洞 本实用新型 待检测产品 输入端连接 检测位置 向上设置 精准度 插装 固接 夹持 马达 升降 贯穿 | ||
本实用新型提供了一种毛刺检测机构,其检测快速高效、且检测精准度高。其包括置于机台上的检具,检具上定位有待检测产品,产品的轴向上设置有轴向孔,产品的外环面的高度方向上设置有至少N层孔洞,其中N为大于等于2的自然数,其特征在于:机台的检测位置的正下方布置有垂直向升降的光柱,光柱自下而上贯穿机台、检具后插装于轴向孔内布置,机台的外侧固定座上设置有垂直向机座,垂直向机座的朝向产品的位置固装有第一上下气缸,第一上下气缸的输出端设置有安装座,安装座上布置有旋转轴,旋转轴的下部输出端固接有夹爪气缸,旋转轴的上部输入端连接有马达,夹爪气缸用于夹持待检测产品,固定座上的不同位置分别设置有N个CCD相机。
技术领域
本实用新型涉及精密机械检测的技术领域,具体为一种毛刺检测机构。
背景技术
现有的精密机械在进行毛刺检测时,尤其是对于产品的轴向上设置有轴向孔,所述产品的外环面的高度方向上设置有至少两处孔洞的产品,其需要分别调整光源高度,然后进行检测,其检测周期长,且对于毛刺的检测精准度较差。
发明内容
针对上述问题,本实用新型提供了一种毛刺检测机构,其检测快速高效、且检测精准度高。
一种毛刺检测机构,其技术方案是这样的,其包括置于机台上的检具,所述检具上定位有待检测产品,所述产品的轴向上设置有轴向孔,所述产品的外环面的高度方向上设置有至少N层孔洞,其中N为大于等于2的自然数,其特征在于:所述机台的检测位置的正下方布置有垂直向升降的光柱,所述光柱自下而上贯穿机台、检具后插装于所述轴向孔内布置,所述机台的外侧固定座上设置有垂直向机座,所述垂直向机座的朝向所述产品的位置固装有第一上下气缸,所述第一上下气缸的输出端设置有安装座,所述安装座上布置有旋转轴,所述旋转轴的下部输出端固接有夹爪气缸,所述旋转轴的上部输入端连接有马达,所述夹爪气缸用于夹持待检测产品,所述固定座上的不同位置分别设置有N个CCD相机,每个CCD相机的镜头朝向各自对应高度的孔洞所对应的产品的外环面布置。
其进一步特征在于:
所述产品为两层孔洞时,所述垂直向机座的两侧分别设置有一个垂直向支架,每个所述垂直向支架上分别安装有CCD相机;
所述旋转轴的上部输入端套装有第一同步轮,所述马达固装于所述安装座的上部,所述马达的输出端套装有第二同步轮,所述第一同步轮、第二同步轮通过同步带连接;
所述光柱垂直向的底部设置有光源,所述光源支承于第二上下气缸的输出端,所述第二上下气缸驱动光柱垂直向动作;
所述机台的内侧位置上布置有感应器,所述感应器用于感应产品的位置,产品位置到位后,感应器给出信号。
采用上述技术方案后,检具运行到位后,光柱垂直向动作插装于所述轴向孔内,并发光,之后夹爪气缸在第一上下气缸的驱动下运行到产品的对应高度位置,然后夹持产品,之后通过对应高度的CCD相机检测对应高度的孔洞,单一孔洞检测完成后,马达驱动旋转轴旋转,对不同径向位置的孔洞进行检测;其检测快速高效、且检测精准度高。
附图说明
图1为本实用新型的立体图结构示意图;
图中序号所对应的名称如下:
检具1、产品2、孔洞3、光柱4、垂直向机座5、第一上下气缸6、安装座7、旋转轴8、夹爪气缸9、马达10、CCD相机11、垂直向支架12、第一同步轮13、第二同步轮14、同步带15、光源16、第二上下气缸17、感应器18。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州嘉斯度智能装备有限公司,未经苏州嘉斯度智能装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821402070.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学元件位相型缺陷测量装置
- 下一篇:半导体测试设备