[实用新型]一种用于细胞表面区域ATP检测的敏感微电极有效
| 申请号: | 201821385927.1 | 申请日: | 2018-08-27 |
| 公开(公告)号: | CN208752033U | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
| 发明(设计)人: | 梁波;朱琴;蔡宇;叶学松 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
| 主分类号: | G01N27/327 | 分类号: | G01N27/327 |
| 代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 傅朝栋;张法高 |
| 地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 第一导电层 第二导电层 电极 上表面 微电极 通孔 本实用新型 细胞表面 信号线 槽腔 焊盘 开孔 孔壁 敏感 绝缘层 绝缘层上表面 百纳米级 电极接触 多组电极 上方位置 液体盛装 释放 不透水 敞口的 灵敏度 围合成 凹坑 响应 检测 覆盖 应用 研究 | ||
本实用新型公开了一种用于细胞表面区域ATP检测的敏感微电极。它包括绝缘层、第一导电层和开孔层;所述的第一导电层设置于绝缘层上表面,第一导电层中包含一组或多组电极、信号线和焊盘,电极通过信号线与焊盘相连;所述的开孔层覆盖于第一导电层的上方,且在所述的电极上方位置开设有通孔,所述通孔的孔壁与下方的电极上表面构成敞口的槽腔;所述槽腔内设有与下方电极接触的第二导电层,第二导电层上表面与通孔的孔壁共同围合成不透水的液体盛装凹槽,且第二导电层的上表面分布有若干个百纳米级凹坑。本实用新型的敏感微电极实现了单细胞表面区域的ATP释放的检测,且响应速率快,灵敏度高,在研究单细胞ATP释放机理方面有广阔的应用前景。
技术领域
本实用新型涉及一种敏感微电极,更具体的说是一种用于细胞表面区域ATP 检测的敏感微电极结构。
背景技术
三磷酸腺苷(ATP)不仅是生物细胞内储能供能的重要物质,也是细胞内或细胞间不可或缺的信息递质,在神经信息调控、抑郁样行为调节、凋亡细胞清除等生理过程中有重要意义,因此对细胞释放的ATP进行快速高效的检测分析及释放机制的研究是十分必要的。然而,细胞表面单次burst释放时间在毫秒级别,单次释放ATP浓度在nM量级甚至更低,因此只有快速响应、高灵敏度的ATP 传感器才能准确监测单个细胞表面ATP的受激释放行为和动力学过程,才能实现对ATP释放机制的研究。
传统测定细胞释放ATP的方法主要有荧光法、电泳法、高效液相色谱法、比色法等。这些方法响应速度慢,灵敏度不高,只能检测溶液中的ATP浓度,无法对细胞表面ATP的释放过程进行检测,更难以用于细胞ATP释放机制研究。核酸适配体ATP传感器可达较高的灵敏度,但电极表面的适配体互补链释放后难以回收利用,因此在动态监测和研究ATP释放机制方面有较大困难。
目前,利用ATP酶传感器检测ATP的相关研究已有报道。此类传感器一般采用双酶竞争反应体系,在ATP存在下己糖激酶(HEX)与葡萄糖氧化酶(GOx) 竞争消耗葡萄糖,使得GOx催化葡萄糖分解产生H2O2的量发生变化,通过测量 H2O2电化学响应电流的变化测得ATP浓度。现有技术中,ATP酶传感器只能对溶液中以及组织中ATP累积释放浓度进行检测,难以对贴近细胞表面区域的ATP 释放过程进行研究。其次,普遍存在的微电极结构几乎都是针状微电极的截面或 1mm左右的微电极,此类结构只能针对局部区域的ATP进行检测,测试结果与实验人员放置微电极的位置有较大关系,重复性不好,且无法避免因ATP扩散导致的检测灵敏度和响应速率下降。同时,ATP酶传感器虽然实现了溶液中以及组织中ATP积累释放浓度的监测,但其响应灵敏度和响应速度仍然较低,检测浓度一般在uM以上,响应速度为秒级,依旧很难满足单细胞表面ATP的受激释放行为的监测需求。
发明内容
针对现有技术的上述不足,本实用新型所要解决的技术问题是提供一种能实现单细胞表面区域ATP快速响应、高灵敏度检测的敏感微电极结构。
为实现上述目的,本实用新型所采取的技术方案是:
一种用于细胞表面区域ATP检测的敏感微电极,它包括绝缘层、第一导电层和开孔层;所述的第一导电层设置于绝缘层上表面,第一导电层中包含一组或多组电极、信号线和焊盘,电极通过信号线与焊盘相连;所述的开孔层覆盖于第一导电层的上方,且在所述的电极上方位置开设有通孔,所述通孔的孔壁与下方的电极上表面构成敞口的槽腔;所述槽腔内设有与下方电极接触的第二导电层,第二导电层上表面与通孔的孔壁共同围合成不透水的液体盛装凹槽,且第二导电层的上表面分布有若干个百纳米级凹坑。
本实用新型中,百纳米级凹坑一般是指直径d1在数百纳米(100nm<d1< 1000nm)的半球形凹坑,该凹坑尺寸与ATP囊泡尺寸相匹配。当然凹坑的形态也可以是其他异型形状,但其基本要求是凹坑的大小能够容纳ATP囊泡。由于 ATP囊泡一般呈球形,因此百纳米级凹坑的形态优选为半球形(也包括近似半球形)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学,未经浙江大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821385927.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种聚乙烯膜阻隔性的试验装置
- 下一篇:一种新型电泳预制胶架





