[实用新型]掩模版清洁装置有效

专利信息
申请号: 201821285955.6 申请日: 2018-08-09
公开(公告)号: CN208673040U 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 张祥平;李天慧;黄晓橹;龙海凤 申请(专利权)人: 德淮半导体有限公司
主分类号: G03F1/82 分类号: G03F1/82;G03F7/20;B08B5/02;B08B13/00
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤;陈丽丽
地址: 223300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 掩模版 清洁装置 颗粒物 本实用新型 吹扫组件 曝光机 半导体制造技术 密闭腔室 清洁方式 自动清洁 密闭腔 掩膜版 吹扫 容纳 室内 检测
【权利要求书】:

1.一种掩模版清洁装置,包括用于检测掩模版上颗粒物坐标的曝光机,其特征在于,还包括用于容纳所述掩模版的密闭腔室、以及位于所述密闭腔室内的吹扫组件;所述吹扫组件连接所述曝光机,用于获取所述掩模版上颗粒物的坐标,并根据所述坐标对所述掩模版进行吹扫,以清除所述掩模版上的颗粒物。

2.根据权利要求1所述的掩模版清洁装置,其特征在于,所述吹扫组件包括控制器和至少一氮气枪;所述控制器连接所述曝光机与所述氮气枪,用于获取所述掩模版上颗粒物的坐标,并控制所述氮气枪朝向所述坐标处喷射氮气。

3.根据权利要求2所述的掩模版清洁装置,其特征在于,所述氮气枪喷射氮气的方向与所述掩模版所在平面的夹角为45度。

4.根据权利要求2所述的掩模版清洁装置,其特征在于,所述密闭腔室内还包括用于承载所述掩模版的承载台;至少一氮气枪包括多个氮气枪,且多个氮气枪关于所述承载台的轴向对称设置。

5.根据权利要求2所述的掩模版清洁装置,其特征在于,所述曝光机还用于检测所述颗粒物的粒径;所述控制器用于获取所述颗粒物的粒径,并根据所述粒径调整所述氮气枪喷射氮气的流速。

6.根据权利要求1所述的掩模版清洁装置,其特征在于,所述密闭腔室的相对两端分别具有第一开口和第二开口,第一气体经所述第一开口进入所述密闭腔室,以将所述密闭腔室内的所述颗粒物自所述第二开口排出。

7.根据权利要求6所述的掩模版清洁装置,其特征在于,所述第一气体为氮气。

8.根据权利要求6所述的掩模版清洁装置,其特征在于,所述密闭腔室的端部具有一第三开口,所述掩模版经所述第三开口进出所述密闭腔室。

9.根据权利要求8所述的掩模版清洁装置,其特征在于,还包括位于所述第三开口处的传感器和挡板;所述传感器用于检测所述掩模版是否进入所述密闭腔室,若是,则驱动所述挡板封闭所述第三开口。

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