[实用新型]半导体电容器有效

专利信息
申请号: 201821285583.7 申请日: 2018-08-10
公开(公告)号: CN208690259U 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/02;H01L21/66;C23C16/34;C23C16/52
代理公司: 上海市锦天城律师事务所 31273 代理人: 何金花
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 栅极导电层 半导体电容器 本实用新型 保护层 阵列层 厚度稳定 间隔排列 晶圆产品 良率
【权利要求书】:

1.一种半导体电容器,包含阵列层,其特征在于,所述阵列层一面设置有间隔排列的多个栅极导电层,在所述栅极导电层上设有保护所述栅极导电层的栅极导电层保护层。

2.根据权利要求1所述的半导体电容器,其特征在于,所述栅极导电层保护层的厚度介于1770埃~1830埃。

3.根据权利要求1所述的半导体电容器,其特征在于,所述栅极导电层保护层间还设有填充层。

4.根据权利要求3所述的半导体电容器,其特征在于,所述填充层相对于所述栅极导电层保护层的另一面设有两个并列排列的存储节点接触层。

5.根据权利要求4所述的半导体电容器,其特征在于,所述存储节点接触层相对于所述阵列层的另一面设有金属层。

6.根据权利要求5所述的半导体电容器,其特征在于,所述金属层间设有金属隔离层。

7.根据权利要求6所述的半导体电容器,其特征在于,所述金属隔离层材质包含氮化硅。

8.根据权利要求1-4任一所述的半导体电容器,其特征在于,所述栅极导电层保护层的材质包含氮化硅。

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