[实用新型]用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具

说明书

本实用新型公开了一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，包括：检测块，检测块伸入螺钉孔内以检测螺钉孔的深度，检测块形成为柱状，检测块的轴向两端的端面平行；及手柄，手柄与检测块的轴向一端连接。根据本实用新型的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，在对电子设备的螺钉孔进行检测时，若发现检测块的靠近手柄的端面高于或者低于螺钉孔的靠近手柄的端面，则说明螺钉孔制造的不合格，若发现检测块的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面平齐，则说明螺钉孔制造合格。由此，可以降低操作人员检测的难度，减少操作人员的工作量，从而提升了检测的效率。

技术领域

本实用新型涉及检测治具技术领域，尤其是涉及一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具。

背景技术

电子设备的电池盖上设置有与上盖配合的螺钉孔，由于螺纹孔的尺寸较小，加工时容易出现螺纹孔的深度尺寸过小或者过大。相关技术中，用高度规对螺纹孔的深度进行检测，但每次检测时均需要将高度规进行归零，且检测出的数据还需要和标准尺寸进行对比，给操作人员带来了较大的工作量，且检测效率较低。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，所述用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具具有检测效率高的优点。

根据本实用新型实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，包括：检测块，所述检测块伸入所述螺钉孔内以检测所述螺钉孔的深度，所述检测块形成为柱状，所述检测块的轴向两端的端面平行；及手柄，所述手柄与所述检测块的轴向一端连接。

根据本实用新型实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，通过设置检测块和手柄，在对电子设备的螺钉孔进行检测时，操作人员可以手持检测治具的手柄，将检测治具的检测块伸入螺钉孔中，并观察检测块的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面是否平齐，若发现检测块的靠近手柄的端面高于或者低于螺钉孔的靠近手柄的端面，则说明螺钉孔制造的不合格，若发现检测块的靠近手柄的端面与于螺钉孔的靠近手柄的端面平齐，则说明螺钉孔制造合格。由此，可以降低操作人员检测的难度，减少操作人员的工作量，从而提升了检测的效率。

根据本实用新型的一些实施例，所述检测块轴向两端的端面均与所述检测块的轴线垂直。

在本实用新型的一些实施例中，所述检测块形成为圆柱状。

进一步地，所述检测块的直径为D，所述D满足：1.67mm≤D≤1.73mm。

进一步地，所述D满足：D＝1.7mm。

根据本实用新型的一些实施例，所述检测块的远离所述手柄的一端的端面的外周缘处设有导向斜面，在所述检测块的内侧至外侧的方向上，所述导向斜面朝向靠近所述手柄的方向倾斜。

根据本实用新型的一些实施例，所述手柄包括：连接部，所述连接部的一端与所述检测块的轴向一端连接；握持部，所述握持部与所述连接部的另一端连接。

进一步地，所述连接部沿直线延伸。

进一步地，所述握持部沿直线延伸。

进一步地，所述连接部与所述握持部的横截面的形状和尺寸相同。

在本实用新型的一些实施例中，所述握持部形成为平板状。

在本实用新型的一些实施例中，所述握持部形成为环状。

根据本实用新型的一些实施例，所述检测块的靠近所述手柄的一端与所述手柄远离所述检测块的一端之间的距离为L，所述L满足：3cm≤L≤7cm。

进一步地，所述L满足：L＝4cm。