[实用新型]用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具有效
| 申请号： | 201821283124.5 | 申请日： | 2018-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN208419834U | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 谭康 | 申请（专利权）人： | OPPO(重庆)智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/18 | 分类号： | G01B5/18 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 黄德海 |
| 地址： | 401120 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 螺钉孔 手柄 电子设备 治具 本实用新型 端面平齐 端面平行 人员检测 一端连接 轴向两端 伸入 轴向 柱状 工作量 制造 发现 | ||
1.一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，包括：
检测块，所述检测块伸入所述螺钉孔内以检测所述螺钉孔的深度，所述检测块形成为柱状，所述检测块的轴向两端的端面平行；及
手柄，所述手柄与所述检测块的轴向一端连接。
2.根据权利要求1所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述检测块轴向两端的端面均与所述检测块的轴线垂直。
3.根据权利要求2所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述检测块形成为圆柱状。
4.根据权利要求3所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述检测块的直径为D，所述D满足：1.67mm≤D≤1.73mm。
5.根据权利要求4所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述D满足：D＝1.7mm。
6.根据权利要求1所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述检测块的远离所述手柄的一端的端面的外周缘处设有导向斜面，在所述检测块的内侧至外侧的方向上，所述导向斜面朝向靠近所述手柄的方向倾斜。
7.根据权利要求1所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述手柄包括：
连接部，所述连接部的一端与所述检测块的轴向一端连接；
握持部，所述握持部与所述连接部的另一端连接。
8.根据权利要求7所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述连接部沿直线延伸。
9.根据权利要求8所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述握持部沿直线延伸。
10.根据权利要求9所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述连接部与所述握持部的横截面的形状和尺寸相同。
11.根据权利要求8所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述握持部形成为平板状。
12.根据权利要求8所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述握持部形成为环状。
13.根据权利要求1所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述检测块的靠近所述手柄的一端与所述手柄远离所述检测块的一端之间的距离为L，所述L满足：3cm≤L≤7cm。
14.根据权利要求13所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述L满足：L＝4cm。
15.根据权利要求1所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述检测块的轴向两端的端面之间的距离为H，所述H满足：0.6mm≤H≤0.7mm。
16.根据权利要求15所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述H满足：H＝0.65mm。
17.根据权利要求1所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述手柄与所述检测块螺纹连接，所述手柄的与所述检测块连接的一端设有外螺纹，所述检测块上设有与所述外螺纹配合的螺纹孔。
18.根据权利要求1所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述手柄与所述检测块一体成型。
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