[实用新型]一种高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置

权利要求书

1.一种高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置，待测高双折射保偏光纤设于该测量装置上，其特征在于，所述测量装置包括宽谱光源、在光的传播方向上依次设置的起偏器、电光调制器、检偏器、光电探测器、混频器、数据采集电路和计算机；以及扫频信号源、与所述扫频信号源连接的微波功分器，与所述微波功分器的第二输出端连接的微波移相器，所述微波移相器的输出端连接所述混频器的本振输入端，将第二微波信号输入所述混频器；

所述微波功分器的第一输出端与所述电光调制器的射频输入端连接，所述电光调制器将所述微波功分器输出的第一微波信号调制到光线上形成光载微波信号，所述光载微波信号经所述待测高双折射保偏光纤后形成两路光程差不同的光载微波信号，所述两路光程差不同的光载微波信号经所述光电探测器后输入至所述混频器的射频输入端，所述混频器将所述两路光程差不同的光载微波信号与所述第二微波信号混频后的中频信号经低通滤波器后的直流信号输入至所述数据采集电路，所述数据采集电路将所述直流信号不同幅值处的频率输入至所述计算机；

所述电光调制器的输出端为保偏光纤且与所述待测高双折射保偏光纤采用45°熔接方式连接；

所述待测高双折射保偏光纤的两个偏振本振轴与所述检偏器成45°夹角。

2.根据权利要求1所述高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置，其特征在于，所述光电探测器与所述混频器之间还设置有低噪放大器。

3.根据权利要求1所述高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括电光调制器控制电路，所述电光调制器控制电路与所述电光调制器连接。