[实用新型]双吸头芯片测试设备

说明书

本实用新型揭示了一种双吸头芯片测试设备，包括测试机台，所述测试机台上设置有测试装置、放料装置和转移装置，所述测试装置和所述放料装置都位于所述转移装置的活动范围内，所述转移装置包括机械臂、主吸头组件和副吸头组件，所述主吸头组件固定连接于所述机械臂的末端，所述副吸头组件通过气缸连接于所述主吸头组件的侧面，并可在气缸带动下沿竖直方向运动。本实用新型通过设置双吸头，并优化机械臂的取、防料流程，减少了机械臂的移动次数，缩短了平均测试时间，在动辄成百上千的芯片测试流水线中，对生产效率的提升非常可观；双吸头机械臂可通过在现有的单一吸头机械臂上加装副吸头改造而成，无需另行设计生产，改造成本低，适配性强。

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试设备，尤其涉及一种双吸头芯片测试设备，属于芯片测试领域。

背景技术

近年来随着科技技术的进步，PC、网络终端设备、通信、网络相关设备等电子产品的需求量增，带动了整个世界半导体产业蓬勃发展。各种功能的集成电路芯片成为电子产品硬件电路的核心，各厂商对集成电路芯片采购标准也较为严苛，在现行对集成电路芯片需求量大增的前提下，芯片供货除了确保最终测试合格率之外，还必须保证生产效率。

目前这类小型芯片的测试方式有两种，一种是逐个测试，即可以手工逐个对芯片进行测试。手工测试的效率低，人工成本高，正在逐渐被机械自动测试所取代。

另一种测试方式是将芯片逐个放入测试治具中进行测试。目前这类小型芯片的测试设备包括：测试机台、料盘放置平台、测设治具以及吸料机械臂，现有技术中的机械臂往往只固定有一个吸头，负责将待测品从料盘中吸取放入到测试治具中，待测试完成后，又通过机械臂将芯片分类，放入良品放置料盘或不良品放置料盘。之后吸取新的芯片放入测试治具中。由此可见，对于每一个测试芯片，机械臂需要来回运动数次进行每个芯片逐一放料、取料，测试效率极低，尤其针对产品测试时间比较短的情况，取、放芯片占用的时间远大于实际产品测试时间。

综上所述，在测试环节时间无法缩减的情况下，芯片的搬运环节成为了提高效率的瓶颈。如何减少机械臂的来回运动次数，提供一种能高效取、放芯片，从而提高芯片测试效率的芯片测试设备，就成为本领域人员亟待解决的问题。

发明内容

本实用新型的目的就是为了解决现有技术中存在的上述问题，提出一种双吸头芯片测试设备。

本实用新型的目的将通过以下技术方案得以实现：

一种双吸头芯片测试设备，包括测试机台，所述测试机台上设置有测试装置、放料装置和转移装置，所述测试装置和所述放料装置都位于所述转移装置的活动范围内，所述转移装置包括机械臂、主吸头组件和副吸头组件，所述主吸头组件固定连接于所述机械臂的末端，所述副吸头组件通过气缸连接于所述主吸头组件的侧面，并可在气缸带动下沿竖直方向运动。

优选地，所述测试装置设置有多个测试工位，每个所述测试工位上设置有至少一个测试治具。

优选地，所述放料装置包括料品放置平台，所述料品放置平台上并列设置有待测品放置料盘、不良品放置料盘和良品放置料盘。

优选地，所述待测品放置料盘、不良品放置料盘和良品放置料盘通过导轨与所述料品放置平台连接，所述导轨与所述待测品放置料盘、不良品放置料盘和良品放置料盘的排列方向相垂直。

优选地，所述测试机台上设置有基座，所述机械臂借助所述基座设置于所述测试机台上，并可以所述基座为中心点、绕中心点转动，所述机械臂转动过程中所覆盖的扇形区域为所述机械臂的工作范围。

优选地，所述机械臂包括主臂和前臂，所述主臂与所述基座转动连接，所述前臂与所述主臂转动连接。

优选地，所述测试装置和所述放料装置均位于所述机械臂的工作范围内。