[实用新型]磁性编码器的校准装置有效
| 申请号: | 201821213412.3 | 申请日: | 2018-07-27 |
| 公开(公告)号: | CN208432264U | 公开(公告)日: | 2019-01-25 |
| 发明(设计)人: | 刘元江;程扶诚;肖宇;曹娟娟;李全海 | 申请(专利权)人: | 深圳市歌尔泰克科技有限公司 |
| 主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00 |
| 代理公司: | 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 | 代理人: | 王昭智;马佑平 |
| 地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 校准 测试臂 永磁体 磁性编码器 编码组件 校准装置 测试架 光栅尺 位置信息调整 读取 本实用新型 磁编码器 读取位置 量化编码 人工操作 参考 配置 成功 | ||
本实用新型涉及一种磁性编码器的校准装置,包括:测试架以及设置在测试架上的测试臂,其中,待校准磁性编码器包括:永磁体和编码组件,永磁体和编码组件中的其中一个定位在所述测试架上,另一个设置在所述测试臂上;测试臂上还设有用于读取位置信息的光栅尺,测试臂被配置为根据光栅尺读取的位置信息调整永磁体和编码组件之间的相对位置。该磁性编码器的校准装置,通过在测试臂上设置光栅尺,能够量化编码组件与永磁体在校准时的相对位置,可以定向、定量的调整编码组件与永磁体的相对位置,避免了人工操作存在的不确定的问题,提高了校准精度。并且首次校准成功后为相同尺寸的磁编码器的校准提供了参考,提高了校准效率。
技术领域
本实用新型涉及磁性编码技术领域,更具体地,本实用新型涉及一种磁性编码器的校准装置。
背景技术
磁性编码器是一种新型的角度或者位移测量装置,其原理是采用磁阻或者霍尔元件对变化的磁性材料的角度或者位移值进行测量,磁性材料角度或者位移的变化会引起一定电阻或者电压的变化,通过放大电路对变化量进行放大,通过单片机处理后输出脉冲信号或者模拟量信号,达到测量的目的。
目前,磁性编码器对安装精度要求较高,仅通过人工校准往往难以满足精度要求。
因此,有必要提供一种新的校准装置。
实用新型内容
本实用新型的一个目的是提供一种磁性编码器的校准装置。
根据本实用新型的一个方面,提供一种磁性编码器的校准装置,包括:测试架以及设置在测试架上的测试臂,其中,待校准磁性编码器包括:永磁体和编码组件,永磁体和编码组件中的其中一个定位在所述测试架上,另一个设置在所述测试臂上;所述测试臂上还设有用于读取位置信息的光栅尺,所述测试臂被配置为根据光栅尺读取的位置信息调整永磁体和编码组件之间的相对位置。
进一步地,所述测试臂包括滑动连接在一起的滑轨和滑块,所述光栅尺包括:固定在滑块上的读数头和固定在所述滑轨上的光栅尺条,其中,所述光栅尺条与所述滑轨平行设置,所述读数头与所述光栅尺条相对设置。
进一步地,所述测试臂还包括驱动装置,所述滑块被配置为:在所述驱动装置的驱动下,沿所述滑轨滑动。
进一步地,所述测试臂为三轴运动机构,其包括配合在一起的X轴运动机构、Y轴运动机构以及Z轴运动机构;所述X轴运动机构包括X轴滑轨以及滑动配合在X轴滑轨上的X轴滑块;所述Y轴运动机构包括Y轴滑轨以及滑动配合在Y轴滑轨上的Y轴滑块;所述Z轴运动机构包括Z轴滑轨以及滑动配合在Z轴滑轨上的Z轴滑块。
进一步地,所述光栅尺条包括:X轴光栅尺条、Y轴光栅尺条和Z轴光栅尺条,所述X轴光栅尺条固定在所述X轴滑轨上,且与所述X轴滑轨平行设置,所述Y轴光栅尺条固定在所述Y轴滑轨上,且与所述Y轴滑轨平行设置,所述Z轴光栅尺条固定在所述Z轴滑轨上,且与所述Z轴滑轨平行设置。
进一步地,所述读数头为3个,3个读数头分别设置在所述X轴滑轨、所述Y轴滑轨和所述Z轴滑轨的滑块上,且分别与所述X轴光栅尺条、所述Y轴光栅尺条和所述Z轴光栅尺条相对。
进一步地,所述读数头包括用于读取光栅尺条数据的传感器。
进一步地,所述光栅尺条上设置有刻度值,所述传感器被配置为:能实时采集光栅尺条上的刻度值。
进一步地,所述光栅尺还包括显示屏,所述显示屏用于显示传感器的信息。
进一步地,所述永磁体固定在传动机构的转轴上,所述传动机构固定在所述测试架上。
本实用新型的一个技术效果在于,通过在测试臂上设置光栅尺,能够量化编码组件与永磁体在校准时的相对位置,可以定向、定量的调整编码组件与永磁体的相对位置,避免了人工操作存在的不确定的问题,提高了校准精度。
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