[实用新型]磁性编码器的校准装置有效
申请号: | 201821213412.3 | 申请日: | 2018-07-27 |
公开(公告)号: | CN208432264U | 公开(公告)日: | 2019-01-25 |
发明(设计)人: | 刘元江;程扶诚;肖宇;曹娟娟;李全海 | 申请(专利权)人: | 深圳市歌尔泰克科技有限公司 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00 |
代理公司: | 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 | 代理人: | 王昭智;马佑平 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校准 测试臂 永磁体 磁性编码器 编码组件 校准装置 测试架 光栅尺 位置信息调整 读取 本实用新型 磁编码器 读取位置 量化编码 人工操作 参考 配置 成功 | ||
1.一种磁性编码器的校准装置,其特征在于,包括:测试架以及设置在测试架上的测试臂,其中,待校准磁性编码器包括:永磁体(1)和编码组件(2),永磁体(1)和编码组件(2)中的其中一个定位在所述测试架上,另一个设置在所述测试臂上;所述测试臂上还设有用于读取位置信息的光栅尺,所述测试臂被配置为根据光栅尺读取的位置信息调整永磁体(1)和编码组件(2)之间的相对位置。
2.根据权利要求1所述的磁性编码器的校准装置,其特征在于,所述测试臂包括滑动连接在一起的滑轨和滑块,所述编码组件(2)设置在所述滑块上,所述光栅尺包括:固定在滑块上的读数头和固定在所述滑轨上的光栅尺条,其中,所述光栅尺条与所述滑轨平行设置,所述读数头与所述光栅尺条相对设置。
3.根据权利要求2所述的磁性编码器的校准装置,其特征在于,所述测试臂还包括驱动装置,所述滑块被配置为:在所述驱动装置的驱动下,所述滑块带动所述编码组件(2)沿所述滑轨滑动。
4.根据权利要求2所述的磁性编码器的校准装置,其特征在于,所述测试臂为三轴运动机构,其包括配合在一起的X轴运动机构、Y轴运动机构以及Z轴运动机构;所述X轴运动机构包括X轴滑轨以及滑动配合在X轴滑轨上的X轴滑块;所述Y轴运动机构包括Y轴滑轨以及滑动配合在Y轴滑轨上的Y轴滑块;所述Z轴运动机构包括Z轴滑轨以及滑动配合在Z轴滑轨上的Z轴滑块。
5.根据权利要求4所述的磁性编码器的校准装置,其特征在于,所述光栅尺条包括:X轴光栅尺条(3)、Y轴光栅尺条(5)和Z轴光栅尺条(8),所述X轴光栅尺条(3)固定在所述X轴滑轨(4)上,且与所述X轴滑轨(4)平行设置,所述Y轴光栅尺条(5)固定在所述Y轴滑轨(6)上,且与所述Y轴滑轨(6)平行设置,所述Z轴光栅尺条(8)固定在所述Z轴滑轨(9)上,且与所述Z轴滑轨(9)平行设置。
6.根据权利要求5所述的磁性编码器的校准装置,其特征在于,所述读数头为3个,3个读数头分别设置在X轴滑块(7)、Y轴滑块和Z轴滑块(10)上,且分别与所述X轴光栅尺条(3)、所述Y轴光栅尺条(5)和所述Z轴光栅尺条(8)相对设置,所述读数头被配置为:能实时采集所述X轴滑块(7)、所述Y轴滑块和所述Z轴滑块(10)的位置信息,从而得到所述编码组件(2)的位置信息。
7.根据权利要求2所述的磁性编码器的校准装置,其特征在于,所述读数头包括用于读取光栅尺条数据的传感器。
8.根据权利要求7所述的磁性编码器的校准装置,其特征在于,所述光栅尺条上设置有刻度值,所述传感器被配置为:能实时采集光栅尺条上的刻度值。
9.根据权利要求8所述的磁性编码器的校准装置,其特征在于,所述光栅尺还包括显示屏,所述显示屏用于显示传感器的信息。
10.根据权利要求1所述的磁性编码器的校准装置,其特征在于,所述永磁体(1)固定在电机(11)的转轴上,所述电机(11)固定在所述测试架上。
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