[实用新型]自清洁组件及芯片卷带检测设备

权利要求书

1.一种自清洁组件，其特征在于，包括支撑架和送风组件；

所述送风组件包括第一送风件和第二送风件，所述第一送风件和所述第二送风件间隔设置在所述支撑架上，且所述第一送风件的出风口与所述第二送风件的出风口相对设置。

2.根据权利要求1所述的自清洁组件，其特征在于，所述第一送风件和所述第二送风件均为风刀。

3.根据权利要求2所述的自清洁组件，其特征在于，所述风刀包括风刀本体和盖板；

所述风刀本体为中空结构，且所述风刀本体的端面上设有开口，所述盖板上设有风刀口，且所述盖板盖合在所述开口上。

4.根据权利要求2所述的自清洁组件，其特征在于，所述送风组件还包括风机；所述风机与所述风刀连接。

5.根据权利要求1所述的自清洁组件，其特征在于，所述第一送风件和所述第二送风件能够沿竖直方向相对于所述支撑架移动。

6.根据权利要求5所述的自清洁组件，其特征在于，所述支撑架上设有多个通孔，多个所述通孔沿竖直方向间隔设置，且所述第一送风件和所述第二送风件分别能够与每个通孔固定连接。

7.根据权利要求4所述的自清洁组件，其特征在于，所述风机为离子风机。

8.一种芯片卷带检测设备，其特征在于，包括输送组件、成像组件、控制组件以及权利要求1－7中任一项所述的自清洁组件；

所述输送组件用于输送芯片卷带，以带动芯片卷带相对于所述成像组件移动；

所述成像组件用于获取芯片卷带的图像信息；

所述控制组件能够接收芯片卷带的图像信息，并根据芯片卷带的图像信息判断并显示芯片卷带的崩缺值、反转值、位移值、污染值、缺失值、尺寸值、字元错误值以及封膜缺陷值是否符合预设的范围；

所述自清洁组件设置在所述输送组件与所述成像组件之间。

9.根据权利要求8所述的芯片卷带检测设备，其特征在于，所述输送组件包括第一输送机构、导轨和第二输送机构；

沿芯片卷带的输送方向，所述第一输送机构、所述导轨和所述第二输送机构依次设置；

所述第一输送机构和所述第二输送机构能够分别带动芯片卷带绕芯片卷带的轴线转动，且芯片卷带能够沿导轨的延伸方向移动；

所述成像组件设置在所述导轨的上方；

所述自清洁组件分别设置在所述第一输送机构与所述导轨之间以及所述第二输送机构与所述导轨之间。

10.根据权利要求9所述的芯片卷带检测设备，其特征在于，所述第一输送机构包括第一送料盘、第一送料辊和第一驱动件；

所述第一驱动件与所述第一送料盘连接，用于驱动所述第一送料盘绕第一送料盘的轴线转动，且所述第一送料盘用于与芯片卷带固定；

所述第一送料辊位于所述第一送料盘与所述导轨之间，所述第一送料辊能够绕第一送料辊的轴线转动；

所述第二输送机构包括第二送料盘、第二送料辊和第二驱动件；

所述第二驱动件与所述第二送料盘连接，用于驱动所述第二送料盘绕第二送料盘的轴线转动，且所述第二送料盘用于与芯片卷带固定；

所述第二送料辊位于所述第二送料盘与所述导轨之间，所述第二送料辊能够绕第二送料辊的轴线转动；

所述自清洁组件分别设置在所述第一送料盘与所述第一送料辊之间以及所述第二送料盘与所述第二送料辊之间。