[实用新型]一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置

说明书

本实用新型公开了一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置，所述多探头天线测试系统包括：转台控制模块、复数个探头、校准天线、水平旋转装置和弧形运动装置；所述复数个探头沿弧线等间距或不等间距阵列排布，所述转台控制模块与水平旋转装置和圆弧形运动装置连接，校准天线固定于水平旋转装置和弧形运动装置上，校准天线位于所述复数个探头所围成的圆弧线的圆心位置，本实用新型所用方法只需移动弧形运动装置3次以及用数学递推的方式便可实现对多探头天线测试系统上所有探头的幅度和相位的校准并且不限探头的个数，大大提升了校准速度，比传统校准方式快10倍，并且由于没有使用传统校准方式中放置于系统中心位置的二维转台，消除了由该转台引起的电磁波反射误差，使得校准更加精确。

技术领域

本实用新型涉及天线测试系统，尤其涉及一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置。

背景技术

近些年来，随着多探头天线测试技术被越来越广泛的运用到无线通讯设备的测试领域，对于多探头天线测试系统的校准也提出了更多的要求。校准的精确性要求越来越高，校准的方法要求越来越简单，校准的速度要求越来越快。

传统的多探头天线校准方法要求在被测环形系统的中心，架设一个二维的转台，将用于校准的天线放置在转台上面，校准过程中，转台沿着多探头天线阵列的垂直面进行转动，并且当校准天线指向每一个探头时，校准天线做360度旋转；这种校准方法对于二维转台的放置和转动精度要求极高，校准时间很长，并且由于二维转台本身反射面积较大，在校准过程中相当于一个反射物，从而影响测试精度；这种校准方法受到越来越多的质疑和诟病。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，提供一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置，运用数学递推的算法，并结合水平旋转装置和弧形运动装置的实际使用，能够快速的，精确的对多探头天线测试系统进行幅度和相位的校准，并且由于没有二维转台的影响，校准的过程与真实测试环境一致，具有更好的代表性，本实用新型的目的在于，设计一种用于校准多探头天线测试系统幅度和相位的探头校准装置。

本实用新型实现的技术方案如下所述：一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置，包括：转台控制模块、复数个探头、校准天线、水平旋转装置和弧形运动装置；所述复数个探头沿弧线等间距或不等间距阵列排布，所述转台控制模块与水平旋转装置和弧形运动装置连接，校准天线固定于水平旋转装置和弧形运动装置上，校准天线位于所述复数个探头所围成的圆弧线的圆心位置。

进一步地，所述多探头天线测试系统还包括支架，所述校准天线设于所述支架的顶端，支架固设于水平旋转装置和弧形运动装置上。

进一步地，弧线阵列排布包括：完整的圆环或部分圆环。

进一步地，所述弧形运动装置上设有限位装置。

进一步地，所述限位装置包括：物理限位装置或电子开关限位装置或寻零开关装置或软件限位模块。

进一步地，所述支架包括高分子材料或金属材料制成。

进一步地，弧形运动装置的旋转中心和所述复数个探头所围成的环的中心重合，当水平旋转装置旋转时，弧形运动装置的旋转中心保持不变。

进一步地，所述弧形运动装置的旋转面和所述复数个探头所围成的圆弧线平面重合。

水平旋转装置沿着水平方向可转动360度。

弧形运动装置沿着多探头天线测试系统探头阵列组成的垂直面方向可以转动至少360/(P+1)度，其中P为探头的数量。