[实用新型]一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置有效

专利信息
申请号: 201821049613.4 申请日: 2018-07-03
公开(公告)号: CN208459582U 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 陈宇钦;张佳莺 申请(专利权)人: 上海益麦电磁技术有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 上海申浩律师事务所 31280 代理人: 房平木
地址: 上海市杨浦区国泰*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 校准 天线测试系统 多探头 水平旋转装置 复数个探头 天线 弧形运动装置 探头校准装置 转台控制模块 本实用新型 电磁性能 探头 系统中心位置 电磁波反射 圆弧形运动 二维转台 间距阵列 移动弧形 圆心位置 运动装置 装置连接 圆弧线 转台 递推 弧线 排布 数学
【权利要求书】:

1.一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置,其特征在于,包括:转台控制模块(7)、复数个探头(1)、校准天线(3)、水平旋转装置(5)和弧形运动装置(6);所述复数个探头(1)沿弧线等间距或不等间距阵列排布,所述转台控制模块(7)与水平旋转装置(5)和弧形运动装置(6)连接,校准天线(3)固定于水平旋转装置(5)和弧形运动装置(6)上,校准天线(3)位于所述复数个探头(1)所围成的圆弧线的圆心位置。

2.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置,其特征在于,所述多探头天线测试系统还包括支架(4),所述校准天线(3)设于所述支架(4)的顶端,支架(4)固设于水平旋转装置(5)和弧形运动装置(6)上。

3.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置,其特征在于,弧线阵列排布包括:完整的圆环或部分圆环。

4.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置,其特征在于,所述弧形运动装置(6)上设有限位装置。

5.根据权利要求4所述的一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置,其特征在于,所述限位装置包括:物理限位装置或电子开关限位装置或寻零开关装置或软件限位模块。

6.根据权利要求2所述的一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置,其特征在于,所述支架(4)包括高分子材料或金属材料制成。

7.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置,其特征在于,弧形运动装置(6)的旋转中心和所述复数个探头(1)所围成的环(2)的中心重合,当水平旋转装置(5)旋转时,弧形运动装置(6)的旋转中心保持不变。

8.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置,其特征在于,所述弧形运动装置(6)的旋转面和所述复数个探头(1)所围成的圆弧线的平面重合。

9.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统电磁性能探头校准装置,其特征在于,弧形运动装置(6)沿着多探头天线测试系统探头阵列组成的垂直面方向可以转动至少360/(P+1)度,其中P为探头的数量。

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