[实用新型]一种多探头天线测试系统探头校准装置

说明书

本实用新型公开了一种多探头天线测试系统的探头校准装置，包括转台控制模块，通过用转台控制模块控制的水平转台和角度转台，用于安装在水平转台和角度转台上面的泡沫塑料或其他非金属类材料的支架，固定于支架上面的校准天线，用于测试幅度和相位的网络分析仪，本实用新型所用方法只需移动角度转台3次以及用数学递推的方式便可实现对多探头天线测试系统上所有探头的幅度和相位的校准并且不限探头的个数，大大提升了校准速度，比传统校准方式快10倍，并且由于没有使用传统校准方式中放置于系统中心位置的二维转台，消除了由该转台引起的电磁波反射误差，使得校准更加精确。

技术领域

本实用新型涉及天线测试系统，尤其涉及一种多探头天线测试系统探头校准装置。

背景技术

近些年来，随着多探头天线测试技术被越来越广泛的运用到无线通讯设备的测试领域，对于多探头天线测试系统的校准也提出了更多的要求。校准的精确性要求越来越高，校准的方法要求越来越简单，校准的速度要求越来越快。

传统的多探头天线校准方法要求在被测环形系统的中心，架设一个二维的转台，将用于校准的天线放置在转台上面，校准过程中，转台沿着多探头天线阵列的垂直面进行转动，并且当校准天线指向每一个探头时，校准天线做360度旋转；这种校准方法对于二维转台的放置和转动精度要求极高，校准时间很长，并且由于二维转台本身反射面积较大，在校准过程中相当于一个反射物，从而影响测试精度；这种校准方法受到越来越多的质疑和诟病。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，提供一种快速有效的多探头天线测试系统校准方法，运用数学递推的算法，并结合水平转台和角度转台的实际使用，能够快速的，精确的对多探头天线测试系统进行幅度和相位的校准，并且由于没有二维转台的影响，校准的过程与真实测试环境一致，具有更好的代表性。

本实用新型实现的技术方案如下所述：一种多探头天线测试系统的校准方法，

所述多探头天线测试系统包括数据采集模块、校准系数分析模块、转台控制模块、校准天线、复数个探头、水平转台、角度转台；所述复数个探头呈环状排列，所述数据采集模块与所述校准天线、复数个探头、校准系数分析模块相连接，所述校准天线位于所述复数个探头所围成的环的中心位置，校准天线固定于水平转台和角度转台上，所述方法包括如下步骤：

所述转台控制模块控制水平转台和角度转台使校准天线指向第N号探头，其中N为自然数，并使水平转台按照预定的步进X°转动360/X次，数据采集模块在每一个步进位置采集场强信息；

所述转台控制模块控制角度转台使校准天线指向多探头天线阵列第N-1号探头和N号探头的中间位置，并使水平转台按照预定的步进X°转动360/X次，数据采集模块在每一个步进位置采集场强信息；

所述转台控制模块控制角度转台使校准天线指向多探头天线阵列第N号探头和N+1号探头的中间位置，并使水平转台按照预定的步进X°转动360/X次，数据采集模块在每一个步进位置采集场强信息；

所述校准系数分析模块根据以上步骤采集的场强信息计算出每一个探头的校准系数。

进一步地，数据采集模块在每一个步进位置采集幅度和相位的数据。

进一步地，数据采集模块在每一个步进位置采集2个极化的场强信息。

进一步地，校准系数分析模块根据场强信息计算出每一个探头每一个极化的校准系数。

进一步地，所述水平转台步进X°的取值范围包括：0°<X<90°。

进一步地，所述多探头天线测试系统还包括支架，支架固设于水平转台和角度转台上，所述支架支撑所述校准天线，使所述校准天线位于所述复数个探头所围成的环的中心位置。