[实用新型]一种多探头天线测试系统探头校准装置有效

专利信息
申请号: 201821046114.X 申请日: 2018-07-03
公开(公告)号: CN208459581U 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 陈宇钦;张佳莺 申请(专利权)人: 上海益麦电磁技术有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 上海申浩律师事务所 31280 代理人: 房平木
地址: 上海市杨浦区国泰*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 校准 转台 天线测试系统 多探头 探头校准装置 转台控制模块 本实用新型 水平转台 探头 支架 泡沫塑料 非金属类材料 系统中心位置 电磁波反射 网络分析仪 二维转台 递推 天线 数学 测试 移动
【权利要求书】:

1.一种多探头天线测试系统探头校准装置,其特征在于,包括:转台控制模块(9)、复数个探头、校准天线(3)、水平转台(5)、角度转台(6)、数据采集模块(7)和校准系数分析模块(8);所述复数个探头(1)呈环状排列,所述转台控制模块(9)与水平转台(5)和角度转台(6)连接,所述数据采集模块(7)与校准天线(3)、复数个探头(1)和校准系数分析模块(8)连接,校准天线(3)固定于水平转台(5)和角度转台(6)上,校准天线(3)位于所述复数个探头(1)所围成的环(2)的中心位置。

2.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统探头校准装置,其特征在于,所述多探头天线测试系统还包括支架(4),所述校准天线(3)设于所述支架(4)的顶端,支架(4)固设于水平转台(5)和角度转台(6)上。

3.根据权利要求2所述的一种多探头天线测试系统探头校准装置,其特征在于,所述角度转台(6)与支架(4)的接触面包括具有凹面弧形的表面。

4.根据权利要求2所述的一种多探头天线测试系统探头校准装置,其特征在于,所述支架(4)包括高分子材料或金属材料制成。

5.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统探头校准装置,其特征在于,角度转台(6)的旋转中心和所述复数个探头(1)所围成的环(2)的中心重合,当水平转台(5)旋转时,角度转台(6)的旋转中心保持不变。

6.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统探头校准装置,其特征在于,所述角度转台(6)的旋转面和所述复数个探头(1)所围成的环(2)平面重合。

7.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统探头校准装置,其特征在于,所述校准天线(3)包括单极化喇叭天线或双极化喇叭天线。

8.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统探头校准装置,其特征在于,数据采集模块与所述校准天线(3)和所述探头(1)通过射频同轴电缆连接。

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