[实用新型]一种光学检测系统有效
申请号: | 201821039522.2 | 申请日: | 2018-06-29 |
公开(公告)号: | CN208297379U | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | 吴德生;林高;李志成 | 申请(专利权)人: | 信利光电股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人: | 王仲凯 |
地址: | 516600 广东省汕*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 待测物体 起偏器 偏振化 光学检测系统 光源 黑体 光线通过 区域形成 照射光线 不透光 可透光 检测 观察 申请 检查 | ||
本申请公开了一种光学检测系统,用于检测部分可透光的待测物体,包括:光源,设置在所述待测物体的第一侧,用于对所述待测物体提供照射光线;第一起偏器,设置在所述光源与所述待测物体之间的光路上;第二起偏器,设置在所述待测物体的第二侧;所述第一起偏器的偏振化方向与所述第二起偏器的偏振化方向具有一定夹角。由于第一起偏器和第二起偏器的偏振化方向不同,在待测物体无缺陷时,最后几乎没有光线通过,观察者看到的基本是一个黑体,但是待测物体某处有缺陷时,经过该处的光线,偏振化方向会发生改变,在有缺陷的地方,看到的会是一个亮点,和周边黑色不透光的区域形成了较高的对比度,从而可以快速准确地检查出该处的缺陷。
技术领域
本实用新型涉及缺陷检测领域,特别是涉及一种光学检测系统。
背景技术
现代商品多种多样,各种产品在生产过程中会不可避免的出现各种瑕疵,如有杂质、灰尘、气泡、裂痕、刮伤等,因此在生产过程中需要对产品进行缺陷检查。目前,传统的方法是采用人工粗略检查产品,以确定具体的缺陷以及缺陷类型,这样的检查方法耗用了大量的人力物力,成本高,且检查时间长,导致工作效率和准确率较低。
因此,如何快速准确地进行产品的缺陷检查,是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种光学检测系统,可以快速准确地检查出该处的缺陷。其具体方案如下:
一种光学检测系统,用于检测部分可透光的待测物体,包括:
光源,设置在所述待测物体的第一侧,用于对所述待测物体提供照射光线;
第一起偏器,设置在所述光源与所述待测物体之间的光路上;
第二起偏器,设置在所述待测物体的第二侧;所述第一起偏器的偏振化方向与所述第二起偏器的偏振化方向具有一定夹角。
优选地,在本实用新型实施例提供的上述光学检测系统中,所述第一起偏器的偏振化方向与所述第二起偏器的偏振化方向相互垂直。
优选地,在本实用新型实施例提供的上述光学检测系统中,所述第一起偏器和所述第二起偏器均为偏光片。
优选地,在本实用新型实施例提供的上述光学检测系统中,还包括:
图像采集器,设置在所述第二起偏器远离所述待测物体的一侧,用于采集从所述第二起偏器出来的投射光线所形成的图片。
优选地,在本实用新型实施例提供的上述光学检测系统中,所述图像采集器为线性扫描相机。
优选地,在本实用新型实施例提供的上述光学检测系统中,还包括:
图像处理器,与所述图像采集器电性连接,用于对所述图像采集器采集的图片进行处理,根据处理后的结果判断出所述待测物体的缺陷。
本实用新型所提供的一种光学检测系统,用于检测部分可透光的待测物体,包括:光源,设置在所述待测物体的第一侧,用于对所述待测物体提供照射光线;第一起偏器,设置在所述光源与所述待测物体之间的光路上;第二起偏器,设置在所述待测物体的第二侧;所述第一起偏器的偏振化方向与所述第二起偏器的偏振化方向具有一定夹角。
由于第一起偏器和第二起偏器的偏振化方向不同,在待测物体无缺陷时,最后几乎没有光线通过,观察者看到的基本是一个黑体,但是待测物体某处有缺陷时,经过该处的光线,偏振化方向会发生改变,在有缺陷的地方,看到的会是一个亮点,和周边黑色不透光的区域形成了较高的对比度,从而可以快速准确地检查出该处的缺陷。
附图说明
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