[实用新型]一种光学检测系统有效

专利信息
申请号: 201821039522.2 申请日: 2018-06-29
公开(公告)号: CN208297379U 公开(公告)日: 2018-12-28
发明(设计)人: 吴德生;林高;李志成 申请(专利权)人: 信利光电股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 代理人: 王仲凯
地址: 516600 广东省汕*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 待测物体 起偏器 偏振化 光学检测系统 光源 黑体 光线通过 区域形成 照射光线 不透光 可透光 检测 观察 申请 检查
【权利要求书】:

1.一种光学检测系统,用于检测部分可透光的待测物体,其特征在于,包括:

光源,设置在所述待测物体的第一侧,用于对所述待测物体提供照射光线;

第一起偏器,设置在所述光源与所述待测物体之间的光路上;

第二起偏器,设置在所述待测物体的第二侧;所述第一起偏器的偏振化方向与所述第二起偏器的偏振化方向具有一定夹角。

2.根据权利要求1所述的光学检测系统,其特征在于,所述第一起偏器的偏振化方向与所述第二起偏器的偏振化方向相互垂直。

3.根据权利要求2所述的光学检测系统,其特征在于,所述第一起偏器和所述第二起偏器均为偏光片。

4.根据权利要求1至3任一项所述的光学检测系统,其特征在于,还包括:

图像采集器,设置在所述第二起偏器远离所述待测物体的一侧,用于采集从所述第二起偏器出来的投射光线所形成的图片。

5.根据权利要求4所述的光学检测系统,其特征在于,所述图像采集器为线性扫描相机。

6.根据权利要求5所述的光学检测系统,其特征在于,还包括:

图像处理器,与所述图像采集器电性连接,用于对所述图像采集器采集的图片进行处理,根据处理后的结果判断出所述待测物体的缺陷。

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