[实用新型]同测指纹芯片测试治具

说明书

同测指纹芯片测试治具，排针模组底板中心处安装条形中心插针定位模块，排针模组底板上位于中心插针定位模块四周固定安装第一模块、第二模块和第三模块，中心插针定位模块的槽内放置膜片。本实用新型的同测指纹芯片测试治具，通过专用治具达到十二颗芯片六个方向探针同时置针，可用于高精度指纹传感器芯片十二颗同时测试，满足测试功能同时大大提高测试效率，降低测试成本。

技术领域

本实用新型涉及治具技术领域。

背景技术

在芯片进行测试过程中，通常需要各种治具进行辅助，现有的高精度指纹传感器芯片检测中，通常一次只能针对一个芯片，检测效率低。

实用新型内容

为了解决现有芯片检测治具存在的上述问题，本实用新型提供了一种同测指纹芯片测试治具。

本实用新型为实现上述目的所采用的技术方案是：同测指纹芯片测试治具，排针模组底板中心处安装条形中心插针定位模块，排针模组底板上位于中心插针定位模块四周固定安装第一模块、第二模块和第三模块，中心插针定位模块的槽内放置膜片。

所述膜片通过树脂粘贴于中心插针定位模块槽内。

所述第一模块、第二模块和第三模块通过螺丝安装于排针模组底板上。

所述第一模块和第二模块为向内倾斜7度的斜面结构。

所述第一模块、第二模块和第三模块与中心插针定位模块的接触高度公差20um。

本实用新型的同测指纹芯片测试治具，通过专用治具达到十二颗芯片六个方向探针同时置针，可用于高精度指纹传感器芯片十二颗同时测试，满足测试功能同时大大提高测试效率，降低测试成本。

附图说明

图1是本实用新型同测指纹芯片测试治具主视剖面结构图。

图2是本实用新型同测指纹芯片测试治具俯视结构图。

图中：1、第一模块，2、第一模块，3、第三模块，4、中心插针定位模块，5、排针模组底板，6、膜片。

具体实施方式

本实用新型的同测指纹芯片测试治具解耦股如图1和图2所示，排针模组底板5中心处安装条形中心插针定位模块4，排针模组底板5上位于中心插针定位模块4四周通过螺丝固定安装第一模块1、第二模块2和第三模块3，中心插针定位模块1的槽内放置膜片6，膜片6通过树脂粘贴于中心插针定位模块1槽内。第一模块1和第二模块2为向内倾斜7度的斜面结构。本实用新型的同测指纹芯片测试治具，通过专用治具达到十二颗芯片六个方向探针同时置针，可用于高精度指纹传感器芯片十二颗同时测试，满足测试功能同时大大提高测试效率，降低测试成本。

使用时，1.首先把中心插针定位模块4、第一模块1、第二模块2和第三模块3用六角螺丝组装到排针模组底板5上；

2.调整第一模块1、第二模块2和第三模块3与中心插针定位模块4的接触高度公差20um；

3.把膜片6 在高倍显微镜下用树脂粘贴到中心插针定位模块1的对应槽中；

4.通过膜片6上的通孔进行逐个排针并且通过树脂固定。