[实用新型]同测指纹芯片测试治具有效
| 申请号： | 201820826691.4 | 申请日： | 2018-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN208188161U | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | 徐立华;卞学礼;刘通 | 申请（专利权）人： | 沈阳圣仁电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 110168 辽宁省沈*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试治具 定位模块 指纹芯片 中心插针 模组底板 排针 芯片 本实用新型 指纹传感器 测试成本 测试功能 测试效率 第一模块 中心处 可用 膜片 探针 治具 测试 | ||
【权利要求书】：
1.同测指纹芯片测试治具，其特征在于：排针模组底板（5）中心处安装条形中心插针定位模块（4），排针模组底板（5）上位于中心插针定位模块（4）四周固定安装第一模块（1）、第二模块（2）和第三模块（3），中心插针定位模块（1）的槽内放置膜片（6）。
2.根据权利要求1所述的同测指纹芯片测试治具，其特征在于：所述膜片（6）通过树脂粘贴于中心插针定位模块（1）槽内。
3.根据权利要求1所述的同测指纹芯片测试治具，其特征在于：所述第一模块（1）、第二模块（2）和第三模块（3）通过螺丝安装于排针模组底板（5）上。
4.根据权利要求1所述的同测指纹芯片测试治具，其特征在于：所述第一模块（1）和第二模块（2）为向内倾斜7度的斜面结构。
5.根据权利要求1所述的同测指纹芯片测试治具，其特征在于：所述第一模块（1）、第二模块（2）和第三模块（3）与中心插针定位模块（4）的接触高度公差20um。
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