[实用新型]一种CML电平转CMOS电平的电路结构有效

专利信息
申请号: 201820811046.5 申请日: 2018-05-29
公开(公告)号: CN208691218U 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 戴澜;陈纲 申请(专利权)人: 高科创芯(北京)科技有限公司
主分类号: H03K19/0185 分类号: H03K19/0185
代理公司: 北京易正达专利代理有限公司 11518 代理人: 程宝妹
地址: 100080 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电路结构 本实用新型 直流工作点 放大电路 占空比 高速集成电路芯片 电流模式逻辑 差分电路 二级放大 矫正电路 信号摆幅 一级放大 去耦合 转换 搬移 失调 均衡
【说明书】:

实用新型公开了一种电流模式逻辑(CML)电平转CMOS电平电路结构,包括:CML电平均衡放大电路A,用于将差分电路信号进行直流工作点搬移,同时对CML信号摆幅进行一级放大;直流去耦合放大电路B,用于去掉差分CML信号的直流工作点,同时对所述差分CML信号进行二级放大;以及占空比矫正电路C,用于在高速CML电平进行CMOS电平转换的过程中,避免占空比失调。采用本实用新型的电路结构,能够高效解决高速集成电路芯片中实现CML电平到CMOS电平的转换的目的。

技术领域

本实用新型涉及电路及信号处理技术,尤其涉及一种电流模式逻辑(CML)电平转CMOS电平的电路结构。

背景技术

在数字电路芯片中,信号普遍的传输过程都是CMOS电平,所谓CMOS电平,就是指“1”逻辑电平电压接近于电源电压,“0”逻辑电平接近于0V。而且具有很宽的噪声容限。这种CMOS电平是数字电路里面最为通用的电平标准,如图1a和图1b所示。

而随着高速集成电路芯片技术的发展,在高速的时钟树电路以及在高速接口电路中,传统CMOS电平标准的电路形式越来越无法满足高速信号传输的特性,因此出现了一种新的信号电平传输方式,即电流模式逻辑(Current Model Logic,CML)传输形式,这种CML电平的输入和输出均是已匹配好的,由于减少了外围器件,其更适合于在更高频段工作。CML电平的特点如图2所示,通常是由差分信号组成,通过两个差分输入信号转换成两个差分输出信号,这种差分信号的特点是信号成对出现,由“正”和“反”的差分信号对出现,这种信号首先是信号摆幅比较小,通常最低可以达到几十毫伏,远远小于CMOS的电源电压摆动幅度,因此CML电平又可以称作差分小信号摆幅,而CMOS电平可以称作单端大信号摆幅。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型的主要目的在于提供一种电流模式逻辑(CML)电平转CMOS电平电路结构,以解决高速集成电路芯片中实现CML电平到CMOS电平的转换。

为达到上述目的,本实用新型的技术方案是这样实现的:

一种电流模式逻辑(CML)电平转CMOS电平电路结构,包括:

CML电平均衡放大电路A,用于将差分电路信号进行直流工作点搬移,同时对CML信号摆幅进行一级放大;

直流去耦合放大电路B,用于去掉差分CML信号的直流工作点,同时对所述差分CML信号进行二级放大;以及,

占空比矫正电路C,用于在高速CML电平进行CMOS电平转换的过程中,避免占空比失调。

其中:所述CML电平均衡放大电路A,具体电路包括:电阻R1、电阻R2、晶体管M1、晶体管M2、电流源Ki1和电流源Ki2以及电容C1;所述电阻R1和电阻R2均连接工作电压VDD;所述晶体管M1和晶体管M2的栅极G分别与VA和VB相连;所述晶体管M1的漏极D与电阻R1的另一端相连,所述晶体管M2的漏极D与电阻R2的另一端相连;所述晶体管M1的源极S和晶体管M2的源极S分别连接有电流源Ki1和电流源Ki2。所述电流源Ki1和电流源Ki2的另一端分别接地。所述晶体管M1和晶体管M2的源极S之间通过电容C1相连。

所述直流去耦合放大电路B,具体电路包括:与晶体管M1的漏极D依次串联的电容C3、反相器N2;和与晶体管M2的漏极D依次串联的电容C2、反相器N1;以及所述反相器N2和反相器N1两端分别并联有电阻R4和电阻R3。

所述占空比矫正电路C,具体电路包括:与所述反相器N2的输出端相连的反相器N6;和与所述反相器N1的输出端相连的反相器N5;以及并联在反相器N5和反相器N6的输入端之前的反相器N3和反相器N4;所述并联设置的反相器N3和反相器N4为反向设置。

所述占空比矫正电路C的反相器N5和反相器N6的输出端分别作为CML电平转CMOS电平的电路的信号输出端。

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