[实用新型]电子元件表面缺陷检测装置

说明书

本实用新型公开了电子元件表面缺陷检测装置，包括底座，底座的一侧上设有定位座，定位座的对内朝向面位置设有定位槽，定位座的顶部设有一对导向轴，导向轴呈竖直布置，导向轴的顶部之间设有顶板，顶板的中部位置设有液压缸，液压缸的下部设有活塞杆，活塞杆的下端设有升降架，升降架的下部设有放大镜，放大镜与升降架的一侧之间设有滑管，滑管套装在导向轴的外周面。本实用新型可以使放大镜竖直滑动稳定性更加好；通过放大镜可以方便检测者对电子元件的表面缺陷进行观测，从而也方便操作者通过检测仪器对电子元件的表面缺陷进行检测。

技术领域

本实用新型涉及检测装置，特别涉及电子元件表面缺陷检测装置。

背景技术

现有技术中，如专利ZL201610302273.0公开了检测电子元件表面缺陷的装置，属于表面质量检查设备领域。目的是提供一种能准确反应电子元件表面缺陷的尺寸的检测电子元件表面缺陷的装置。包括支座，安装于支座的光源、放大镜和摄像镜头，光源、放大镜和摄像镜头由下至上依次布置；在光源下方设有电子元件检测台，电子元件检测台包括与支座可拆卸连接的反射本体，在反射本体上设有垂直贯穿反射本体的方形通孔，方形通孔的四个内壁上均安装有平面镜，平面镜的镜面由下至上向外延伸；在通孔正下方设有安装于支座的检测平台，检测平台的四周标有刻度，刻度在平面镜的反射范围内。该检测电子元件表面缺陷的装置不方便对待检测的电子元件两侧进行锁接，对电子元件的表面进行观测不方便；且对其进行检测效率低。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供可以使放大镜竖直滑动稳定性更加好；通过放大镜可以方便检测者对电子元件的表面缺陷进行观测，从而也方便操作者通过检测仪器对电子元件的表面缺陷进行检测的电子元件表面缺陷检测装置。

本实用新型是通过以下技术方案来实现的：

电子元件表面缺陷检测装置，包括底座，底座的底部一侧设有第一安装轴，第一安装轴的两端均设有第一移动轮，底座的底部另一侧设有第二安装轴，第二安装轴的两端均设有第二移动轮；底座的一侧上设有第一定位座，第一定位座的对内朝向面位置设有第一定位槽，底座的另一侧上设有第二定位座，第二定位座的对内朝向面位置设有第二定位槽，第二定位槽与第一定位槽对应；第一定位座的顶部设有一对第一导向轴，第一导向轴呈竖直布置，第二定位座的顶部设有一对第二导向轴，第二导向轴呈竖直布置，第一导向轴与第二导向轴的顶部之间设有顶板，顶板的中部位置设有液压缸，液压缸的下部设有活塞杆，活塞杆的下端设有升降架，升降架的下部设有放大镜，放大镜与升降架的一侧之间设有第一滑管，第一滑管套装在第一导向轴的外周面，放大镜与升降架的另一侧之间设有第二滑管，第二滑管套装在第二导向轴的外周面。

进一步地，所述第一导向轴的顶部与顶板的一侧之间设有第一扣架，第二导向轴的顶部与顶板的另一侧之间设有第二扣架。

进一步地，所述活塞杆的下端与升降架的顶部之间设有固定球。

进一步地，所述升降架的横截面为弧形形状。

进一步地，所述第一移动轮与第二移动轮均为万向轮。

本实用新型的有益效果是：操作者可以将待检测的电子元件放置在底座的顶面上，第一定位座通过第一定位槽以及第二定位座通过第二定位槽可以方便对待检测的电子元件的两侧进行定位安装；液压缸通过活塞杆可以控制升降架实现竖直升降调节，升降架的竖直升降调节可以带动放大镜实现竖直升降调节，第一滑管沿着第一导向轴实现竖直滑动调节，第二滑管沿着第二导向轴实现竖直滑动调节，从而可以使放大镜竖直滑动稳定性更加好；通过放大镜可以方便检测者对电子元件的表面缺陷进行观测，从而也方便操作者通过检测仪器对电子元件的表面缺陷进行检测。

附图说明

为了易于说明，本实用新型由下述的具体实施例及附图作以详细描述。

图1为本实用新型电子元件表面缺陷检测装置的结构示意图。

具体实施方式