[实用新型]电子元件表面缺陷检测装置

权利要求书

1.电子元件表面缺陷检测装置，包括底座（11），其特征在于：底座（11）的底部一侧设有第一安装轴（12），第一安装轴（12）的两端均设有第一移动轮（13），底座（11）的底部另一侧设有第二安装轴（14），第二安装轴（14）的两端均设有第二移动轮（15）；底座（11）的一侧上设有第一定位座（16），第一定位座（16）的对内朝向面位置设有第一定位槽（17），底座（11）的另一侧上设有第二定位座（18），第二定位座（18）的对内朝向面位置设有第二定位槽（19），第二定位槽（19）与第一定位槽（17）对应；第一定位座（16）的顶部设有一对第一导向轴（20），第一导向轴（20）呈竖直布置，第二定位座（18）的顶部设有一对第二导向轴（21），第二导向轴（21）呈竖直布置，第一导向轴（20）与第二导向轴（21）的顶部之间设有顶板（22），顶板（22）的中部位置设有液压缸（23），液压缸（23）的下部设有活塞杆（24），活塞杆（24）的下端设有升降架（25），升降架（25）的下部设有放大镜（27），放大镜（27）与升降架（25）的一侧之间设有第一滑管（28），第一滑管（28）套装在第一导向轴（20）的外周面，放大镜（27）与升降架（25）的另一侧之间设有第二滑管（29），第二滑管（29）套装在第二导向轴（21）的外周面。

2.根据权利要求1所述的电子元件表面缺陷检测装置，其特征在于：第一导向轴（20）的顶部与顶板（22）的一侧之间设有第一扣架（30），第二导向轴（21）的顶部与顶板（22）的另一侧之间设有第二扣架（31）。

3.根据权利要求1所述的电子元件表面缺陷检测装置，其特征在于：活塞杆（24）的下端与升降架（25）的顶部之间设有固定球（26）。

4.根据权利要求1所述的电子元件表面缺陷检测装置，其特征在于：升降架（25）的横截面为弧形形状。

5.根据权利要求1所述的电子元件表面缺陷检测装置，其特征在于：第一移动轮（13）与第二移动轮（15）均为万向轮。