[实用新型]一种测试治具及装置有效
| 申请号： | 201820636159.6 | 申请日： | 2018-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN208224313U | 公开（公告）日： | 2018-12-11 |
| 发明（设计）人： | 胡海;李国泉;王泰山;李成鹏 | 申请（专利权）人： | 深圳瑞波光电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 贾凤涛 |
| 地址： | 518052 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 挡板 测试工位 测试治具 待测芯片 快速定位 贴合 芯片 小型半导体 侧面 边缘处 上表面 贴合面 上料 凸缘 限位 申请 测试 检测 | ||
1.一种测试治具，其特征在于，所述测试治具包括基座和多个挡板，所述挡板的贴合面贴合在所述基座的一侧面，所述基座的上表面靠近所述挡板的边缘处设有多个测试工位；所述贴合面的高度大于所述侧面的高度，进而形成凸缘，以使待测芯片快速定位至所述测试工位。
2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述基座的所述测试工位处设有若干导气槽，所述导气槽内通负压，用于吸附放置于所述测试工位处的所述待测芯片。
3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述导气槽竖直开设，若干所述导气槽连通，以平衡每个所述导气槽的吸附压强。
4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述挡板靠近所述待测芯片的上表面为一斜面，所述挡板靠近所述待测芯片一侧的高度大于所述挡板远离所述待测芯片一侧的高度。
5.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述基座与所述挡板之间通过若干螺钉连接，所述基座和所述挡板的材料为不锈钢。
6.根据权利要求5所述的测试治具，其特征在于，所述基座设有第一台阶，所述挡板通过螺钉安装固定在所述台阶处，以实现所述基座与所述挡板的一面贴合。
7.一种测试装置，包括散热基板和测试治具，所述测试治具安装于所述散热基板的表面，其特征在于，所述测试治具包括基座和多个挡板，所述挡板的贴合面贴合在所述基座的一侧面，所述基座的上表面靠近所述挡板的边缘处设有多个测试工位；所述贴合面的高度大于所述侧面的高度，进而形成凸缘，以使待测芯片快速定位至所述测试工位。
8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述基座的所述测试工位处设有若干导气槽，所述导气槽内通负压，用于吸附放置于所述测试工位处的所述待测芯片。
9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述导气槽竖直开设，若干所述导气槽连通，以平衡每个所述导气槽的吸附压强；所述挡板靠近所述待测芯片的所述上表面为一斜面，所述挡板靠近所述待测芯片一侧的高度大于所述挡板远离所述待测芯片一侧的高度。
10.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述散热基板设有第二台阶，所述测试底座通过螺钉安装固定在所述第二台阶处；所述测试治具外接电源及温度传感器，用于调整所述散热基板的散热效率。
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