[实用新型]T组件测试系统

说明书

本实用新型适用于产品测试技术领域，提供了一种T组件测试系统，包括用于控制指令发生器和T组件测试仪器的上位机、用于向待测T组件发送时钟信号、锁存信号和数据信号的指令发生器和用于向待测T组件发送射频输入信号并测试待测T组件性能参数的T组件测试仪器；所述上位机分别与所述指令发生器和所述T组件测试仪器连接，所述指令发生器与所述待测T组件的低频输入端连接，所述T组件测试仪器分别与所述待测T组件的射频输入端和所述待测T组件的待测输出端连接，所述待测T组件的非待测输出端分别通过负载进行接地。本实用新型测试精度高，可靠稳定，无需纯手动测试，自动化程度高，操作步骤简单，测试效率高，生产成本低。

技术领域

本实用新型属于产品测试技术领域，尤其涉及一种T组件测试系统。

背景技术

在产品测试技术领域中，搭建的测试系统各式各样，技术指标测试参量要求也不尽相同。在微波组件产品测试中，基本的测试仪器选择主要是根据产品的频段来选择，以节约成本为目的，而测试频段越高，仪器设备的成本越高，同时还需要满足测试精度与可靠稳定性。在Ka频段T组件测试当中，一套测试仪器的费用十分昂贵，生产成本高，现有技术中需要纯手动进行测试，操作步骤繁琐，测试效率低，而且无法满足测试精度与可靠稳定性要求。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例提供了一种T组件测试系统，以解决现有技术在T组件测试过程中生产成本高，需要纯手动测试，操作步骤复杂，测试效率低，无法满足测试精度与可靠稳定性要求的问题。

本实用新型实施例提供的T组件测试系统，包括用于控制指令发生器和T组件测试仪器的上位机、用于向待测T组件发送时钟信号、锁存信号和数据信号使待测T组件的移相状态为零的指令发生器和用于向待测T组件发送射频输入信号并测试待测T组件性能参数的T组件测试仪器；

所述上位机分别与所述指令发生器和所述T组件测试仪器连接，所述指令发生器与所述待测T组件的低频输入端连接，所述T组件测试仪器分别与所述待测T组件的射频输入端和所述待测T组件的待测输出端连接，所述待测T组件的非待测输出端分别通过负载进行接地。

进一步地，所述T组件测试系统还包括直流电源；

所述直流电源分别与所述上位机和所述指令发生器连接，所述上位机控制所述直流电源为所述指令发生器提供电压，所述直流电源通过所述指令发生器为所述待测T组件提供电压。

进一步地，所述T组件测试系统还包括用于调整所述待测输出端输出的待测信号大小的衰减器；

所述T组件测试仪器通过所述衰减器与所述待测T组件的待测输出端连接。

进一步地，所述T组件测试仪器包括频谱仪和信号发生器；

所述信号发生器分别与所述待测T组件的射频输入端和所述上位机连接，所述频谱仪分别与所述待测T组件的待测输出端和所述上位机连接。

进一步地，所述T组件测试仪器包括网络分析仪；

所述网络分析仪分别与所述上位机、所述待测T组件的射频输入端和所述待测T组件的待测输出端连接。

进一步地，所述上位机通过通用串口总线与所述指令发生器连接。

进一步地，所述上位机通过通用接口总线与所述T组件测试仪器连接。

进一步地，所述指令发生器采用STM32F103微控制器。

进一步地，所述射频输入信号的带宽不超过1GHz。