[实用新型]T组件测试系统有效
| 申请号： | 201820616829.8 | 申请日： | 2018-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN208076623U | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 杨立仲;吴光胜;冯军正 | 申请（专利权）人： | 深圳市华讯方舟微电子科技有限公司;华讯方舟科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/28 | 分类号： | G01R27/28 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 官建红 |
| 地址： | 518102 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 组件测试 指令发生器 本实用新型 上位机 控制指令发生器 射频输入信号 低频输入端 射频输入端 生产成本低 输出端连接 测试 测试效率 产品测试 发送时钟 手动测试 数据信号 锁存信号 性能参数 仪器连接 接地 输出端 自动化 发送 | ||
1.一种T组件测试系统，其特征在于，包括用于控制指令发生器和T组件测试仪器的上位机、用于向待测T组件发送时钟信号、锁存信号和数据信号的指令发生器和用于向待测T组件发送射频输入信号并测试待测T组件性能参数的T组件测试仪器；
所述上位机分别与所述指令发生器和所述T组件测试仪器连接，所述指令发生器与所述待测T组件的低频输入端连接，所述T组件测试仪器分别与所述待测T组件的射频输入端和所述待测T组件的待测输出端连接，所述待测T组件的非待测输出端分别通过负载进行接地。
2.根据权利要求1所述的T组件测试系统，其特征在于，还包括直流电源；
所述直流电源分别与所述上位机和所述指令发生器连接，所述上位机控制所述直流电源为所述指令发生器提供电压，所述直流电源通过所述指令发生器为所述待测T组件提供电压。
3.根据权利要求1所述的T组件测试系统，其特征在于，还包括用于调整所述待测输出端输出的待测信号大小的衰减器；
所述T组件测试仪器通过所述衰减器与所述待测T组件的待测输出端连接。
4.根据权利要求1所述的T组件测试系统，其特征在于，所述T组件测试仪器包括频谱仪和信号发生器；
所述信号发生器分别与所述待测T组件的射频输入端和所述上位机连接，所述频谱仪分别与所述待测T组件的待测输出端和所述上位机连接。
5.根据权利要求1所述的T组件测试系统，其特征在于，所述T组件测试仪器包括网络分析仪；
所述网络分析仪分别与所述上位机、所述待测T组件的射频输入端和所述待测T组件的待测输出端连接。
6.根据权利要求1所述的T组件测试系统，其特征在于，所述上位机通过通用串口总线与所述指令发生器连接。
7.根据权利要求1所述的T组件测试系统，其特征在于，所述上位机通过通用接口总线与所述T组件测试仪器连接。
8.根据权利要求1所述的T组件测试系统，其特征在于，所述指令发生器采用STM32F103微控制器。
9.根据权利要求1所述的T组件测试系统，其特征在于，所述射频输入信号的带宽不超过1GHz。
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