[实用新型]微型同轴测试针

说明书

本实用新型提供一种微型同轴测试针，具有一探针，其特征在于微型同轴测试针还具有一模块化元件及至少一限位件，模块化元件为中空圆柱体，并套设于探针外侧，且探针的两端分别凸出于模块化元件的两端，并模块化元件与探针为非导通状态；限位件位于探针及模块化元件之间，并模块化元件对应限位件设有复数挡抵部，或探针对应限位件设有至少一挡抵部，以通过挡抵部与限位件接触达到限制探针位移的功效。如此提供模块化的测试针产品，而可免于依序植针的不便组装程序，且可提升测试针的适用度，尤针对高频测试更是具有极佳的干扰阻却效能。

技术领域

本实用新型涉及测试探针领域，尤其是一种模块化而易于组装，同时具有极佳遮罩效果以利高频信号测试的微型同轴测试针。

背景技术

各类电子元件于制作完成后，都须进行相关的电性或信号传输检测程序，以确保电子元件的各参数状态，于该领域中则常见以探针作为测试元件的应用。

视电子元件种类与属性，测试时的需求也有所不同。探针结构据此可区分如悬臂探针或垂直探针，并进一步依据应用领域分为如ICT探针、高频探针、开关探针、半导体探针或电池探针等。以测试高速高频信号的探针为例，目前采用的方式系需将探针的零组件，依序装配至一座体中始能进行测试，前述座体上需开设多个与探针尺寸相符的穿孔以利植针者将探针零组件依序置入，此种方式造成组装上的不便以及工时过长的问题；且由于穿孔需与探针尺寸配合，因此需精准控制座体的尺寸公差，并当探针有所设变时，座体的穿孔尺寸也须一并调整，种种不便的下大幅增加了加工与设计成本。另一方面，随着微型化发展，电子元件的尺寸也随之缩减，故用以搭配检测的探针必然须缩小，在整体尺寸已属极微小化的情况下，遑论用以构成其结构的各零组件尺寸，在此情况下依据前述方式进行组装时，更是容易遭遇组装不善进而影响检测效能的情况。

有鉴于此，本实用新型设计人系集结多年来从事相关行业的经验，提出一种微型同轴测试针，希冀可解决现有探针的缺失。

实用新型内容

本实用新型的一目的，旨在提供一种微型同轴测试针，其系提供模块化的测试针产品，除可单一使用外也可任意搭配治具进行检测作业，进而提升测试针的共用性与组装便利性。

为达上述目的，本实用新型揭示一种微型同轴测试针，具有一探针，其特征在于：该微型同轴测试针还具有一模块化元件及至少一限位件，该模块化元件为中空圆柱体，并套设于该探针外侧，且该探针的两端分别凸出于该模块化元件的两端，并该模块化元件与该探针为非导通状态；该限位件相对设置且设于该探针外侧，进而位于该探针及该模块化元件之间，该模块化元件对应该限位件具有复数挡抵部，且至少一该挡抵部邻近该模块化元件的一端设置，至少一该挡抵部邻近该模块化元件的另一端设置，以供与该限位件相互接触进而达到限制该探针位置的功效。如此，单一的该微型同轴测试针即可具有同轴效果，而可直接用于检测，除可免除测试时依序植针的不便，减缩组装工时外，也可进一步搭配各种相关检测治具使用。

于另一实施例中，该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且分别为一弧形凸点；或该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且分别为一环状凸肋，以与该限位件接触达到限位功效。并较佳者，该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且该模块化元件外侧对应该复数挡抵部位置是凹陷状态。

基于前述各实施例内容，于一较佳实施态样下，该限位件对应该挡抵部形成有一接触部，且该接触部是一斜面，以提升该复数挡抵部与该限位件的挡抵效能。

此外，为符合微型化电子元件的检测需求，该微型同轴测试针的最大长度小于3.7mm，以更为适用于现今的微型待测物件。

或于另一实施例中，也可使该模块化元件的直径由两端朝中央方向渐增，而在该模块化元件的二端分别形成该挡抵部，以利用渐减的管径相对该限位件形成挡抵限位效能。