[实用新型]微型同轴测试针

权利要求书

1.一种微型同轴测试针，具有一探针，其特征在于：

该微型同轴测试针还具有一模块化元件及至少一限位件，该模块化元件为中空圆柱体，并套设于该探针外侧，且该探针的两端分别凸出于该模块化元件的两端，该模块化元件与该探针为非导通状态；该限位件设于该探针外侧并位于该探针及该模块化元件之间，该模块化元件对应该限位件具有复数挡抵部，以供与该限位件相互接触进而达到限制该探针位置的功效。

2.根据权利要求1所述的微型同轴测试针，其特征在于，该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且分别为一弧形凸点。

3.根据权利要求2所述的微型同轴测试针，其特征在于，该限位件对应该挡抵部形成有一接触部，且该接触部具有一斜面。

4.根据权利要求3所述的微型同轴测试针，其特征在于，该微型同轴测试针的长度小于3.7mm。

5.根据权利要求1所述的微型同轴测试针，其特征在于，该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且分别为一环状凸肋。

6.根据权利要求5所述的微型同轴测试针，其特征在于，该限位件对应该挡抵部形成有一接触部，且该接触部是一斜面。

7.根据权利要求6所述的微型同轴测试针，其特征在于，该微型同轴测试针的长度小于3.7mm。

8.根据权利要求1所述的微型同轴测试针，其特征在于，该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且该模块化元件外侧对应该复数挡抵部位置是凹陷状态。

9.根据权利要求8所述的微型同轴测试针，其特征在于，该限位件对应该挡抵部形成有一接触部，且该接触部是一斜面。

10.根据权利要求9所述的微型同轴测试针，其特征在于，该微型同轴测试针的长度小于3.7mm。

11.根据权利要求1所述的微型同轴测试针，其特征在于，该模块化元件的直径由两端朝中央方向渐增，而在该模块化元件的二端分别形成该挡抵部。

12.根据权利要求11所述的微型同轴测试针，其特征在于，该微型同轴测试针的长度小于3.7mm。

13.根据权利要求1所述的微型同轴测试针，其特征在于，该模块化元件具有二个该挡抵部，该模块化元件的直径由中央朝其中一端渐减而形成任一该挡抵部，另一该挡抵部则位于该模块化元件邻近另一端开口处的内侧面。

14.根据权利要求13所述的微型同轴测试针，其特征在于，该微型同轴测试针的长度小于3.7mm。

15.根据权利要求1至14中任一项所述的微型同轴测试针，其特征在于，该探针具有至少一固定槽，供以固设该限位件。

16.根据权利要求15所述的微型同轴测试针，其特征在于，该探针具有一第一针轴、一第二针轴、一导管及一弹性件，该第一针轴及该第二针轴分设于该导管的两端，该弹性件设于该导管内且位于该第一针轴与该第二针轴之间，且该第一针轴一侧延伸接触该第二针轴以形成通路。

17.根据权利要求16所述的微型同轴测试针，其特征在于，该第一针轴具有复数尖锐接点。

18.根据权利要求15所述的微型同轴测试针，其特征在于，该探针具有一第一针轴、一第二针轴、一导管及一弹性件，该第一针轴及该第二针轴分设于该导管的两端，该弹性件设于该导管内且位于该第一针轴与该第二针轴之间，且该第二针轴一侧延伸接触该第一针轴以形成通路。