[实用新型]一种多功能测试仪

权利要求书

1.一种多功能测试仪，其特征在于，包括：用于测量半导体电阻率的半导体电阻率测试单元(12)，用于测量电容容量的电容量测量单元(13)，用于测量电阻阻值的电阻测量单元(14)，74LS138译码器(15)，74LS245八路总线收发器(16)，74LS259地址锁存器(17)，单片机(11)，MAX232芯片(20)，RS232通信接口(21)，RS485通信接口(22)，I/O接口(18)以及显示屏(23)；

显示屏(23)，74LS138译码器(15)，74LS245八路总线收发器(16)，74LS259地址锁存器(17)，半导体电阻率测试单元(12)，电容量测量单元(13)，电阻测量单元(14)，I/O接口(18)以及MAX232芯片(20)分别与单片机(11)连接；

单片机(11)通过半导体电阻率测试单元(12)获取待测元件的电阻率，单片机(11)通过电容量测量单元(13)获取待测元件的电容量，单片机(11)通过电阻测量单元(14)获取待测元件的电阻阻值；

RS232通信接口(21)，RS485通信接口(22)分别与MAX232芯片(20)连接。

2.根据权利要求1所述的多功能测试仪，其特征在于，

单片机(11)包括：采用AT89s51单片机，电容C1，电容C2，电容C3，电容C4，电容C5，电容C6，电阻R1；

AT89s51单片机的XTAL1脚，RST脚，电容C5第一端，晶振C6第一端，电容C3第一端，电阻R1第二端共同连接，电容C5第二端接+5v电源，电阻R1第一端，电容C3第二端，电容C4第一端分别接地，电容C4第二端，晶振C6第二端分别XTAL2脚；AT89s51单片机的P3.0脚与MAX232芯片(20)的TXD1脚连接，AT89s51单片机的P3.1脚与MAX232芯片(20)的RXD1脚连接，MAX232芯片(20)的TXD2脚连接RS485通信接口(22)的RXD脚，MAX232芯片(20)的RXD2脚连接RS485通信接口(22)的TXD脚，MAX232芯片(20)的C1+脚和C1-脚对应连接电容C1的两端；MAX232芯片(20)的C2+脚和C2-脚对应连接电容C2的两端。

3.根据权利要求1或2所述的多功能测试仪，其特征在于，

单片机(11)通过74LS373芯片连接显示屏(23)。

4.根据权利要求1所述的多功能测试仪，其特征在于，

电阻测量单元(14)采用TCA965芯片及外围电路对待测量电阻进行阻值测量。

5.根据权利要求1所述的多功能测试仪，其特征在于，

电容量测量单元(13)采用ST555定时芯片及外围电路对待测电容量进行测量。

6.根据权利要求1所述的多功能测试仪，其特征在于，

半导体电阻率测试单元(12)包括：信号发生器(1)，第一低通滤波电路(2)，第二低通滤波电路(3)，第三低通滤波电路(4)，恒流源(5)，第一乘法电路(6)，第二乘法电路(7)，第一探头(8)，第二探头(9)以及AD转换模块(10)；

单片机(11)与信号发生器(1)输入端连接，单片机(11)与AD转换模块(10)输出端连接；

信号发生器(1)的输出端分别与第一低通滤波电路(2)输入端，第二低通滤波电路(3)输入端和第三低通滤波电路(4)输入端连接；

第一低通滤波电路(2)输出端与第一乘法电路(6)第一输入端连接；

第二低通滤波电路(3)输出端与恒流源(5)输入端连接；恒流源(5)输出端分别与第一探头(8)和第二探头(9)连接，第一探头(8)还与第一乘法电路(6)第二输入端连接，第一探头(8)将检测数据传输至第一乘法电路(6)；第二探头(9)还与第二乘法电路(7)第二输入端连接，第二探头(9)将检测数据传输至第二乘法电路(7)；第三低通滤波电路(4)输出端与第二乘法电路(7)第一输入端连接；

第一乘法电路(6)输出端和第二乘法电路(7)输出端分别与AD转换模块(10)的输入端连接。