[实用新型]一种倾斜式沟槽的大导电面积沟槽式肖特基芯片有效

专利信息
申请号: 201820412167.2 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN208014708U 公开(公告)日: 2018-10-26
发明(设计)人: 关仕汉 申请(专利权)人: 淄博汉林半导体有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/872
代理公司: 淄博佳和专利代理事务所 37223 代理人: 孙爱华
地址: 255086 山东省淄博市高*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 肖特基 外延层 沟槽式 倾斜式 氧化层 导电 内壁 芯片 多晶硅 半导体技术领域 反向耐压能力 半导体类型 导电效率 底面倾斜 水平底面 性能缺陷 反型区 侧壁 填充 保证
【权利要求书】:

1.一种倾斜式沟槽的大导电面积沟槽式肖特基芯片,包括外延层(4),在外延层(4)的表面向下开设有若干沟槽(6),在沟槽(6)的内壁上设置有氧化层(5),在氧化层(5)内填充有多晶硅(7),在外延层(4)以及多晶硅(7)的表面上形成肖特基界面,其特征在于:所述的沟槽(6)包括水平底面以及与底面倾斜设置的侧壁,在沟槽(6)的底部形成半导体类型与外延层(4)相反的反型区,所述的氧化层(5)的顶部位于沟槽(6)内壁的中下部,在沟槽(6)内壁的中上部同时设置有肖特基界面。

2.根据权利要求1所述的倾斜式沟槽的大导电面积沟槽式肖特基芯片,其特征在于:所述的外延层(4)为N型半导体,所述的反型区为P型半导体的P型区(3)。

3.根据权利要求1或2所述的倾斜式沟槽的大导电面积沟槽式肖特基芯片,其特征在于:所述的反型区的掺杂浓度为外延层(4)掺杂浓度的2~100倍。

4.根据权利要求2所述的倾斜式沟槽的大导电面积沟槽式肖特基芯片,其特征在于:所述P型区(3)的厚度为0.2~0.5μm。

5.根据权利要求1所述的倾斜式沟槽的大导电面积沟槽式肖特基芯片,其特征在于:所述氧化层(5)的厚度为50nm~500nm。

6.根据权利要求1所述的倾斜式沟槽的大导电面积沟槽式肖特基芯片,其特征在于:所述沟槽(6)上端口的直径为2~10μm。

7.根据权利要求1所述的倾斜式沟槽的大导电面积沟槽式肖特基芯片,其特征在于:所述氧化层(5)上端与沟槽(6)上端的距离占沟槽(6)深度的4/5~1/5。

8.根据权利要求1或7所述的倾斜式沟槽的大导电面积沟槽式肖特基芯片,其特征在于:所述沟槽(6)的深度为1~5μm。

9.根据权利要求1所述的倾斜式沟槽的大导电面积沟槽式肖特基芯片,其特征在于:所述沟槽(6)的侧壁与底面之间的夹角为120°~130°。

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