[实用新型]一种半导体高倍放大镜检测设备

说明书

本实用新型公开了一种半导体高倍放大镜检测设备，包括底座和设置在所述底座上的检测台，所述检测台上设置有夹持机构，所述底座上相邻检测台设置有伸缩机构，所述伸缩机构沿垂直于底座的方向上、下伸缩设置，所述伸缩机构的端部阻尼铰接设置有支撑杆，所述支撑杆伸向检测台，所述支撑杆的端部设置有高倍放大镜，所述高倍放大镜位于检测台的上方；所述伸缩机构的底部设置有滑动位移机构，所述伸缩机构通过滑动位移机构向检测台滑动位移设置。本实用新型提供一种半导体高倍放大镜检测设备，方便观察及发现半导体零件上的缺陷，结构简单，使用方便。

技术领域

本实用新型属于半导体检测领域，特别涉及一种半导体高倍放大镜检测设备。

背景技术

半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关连。但是在半导体加工完成后，一般会残留一些毛刺，或者金属引脚之间的串联，或是半导体零件件上的开裂等，这些因素都将对半导体的性能产生不利的影响，但由于半导体的体积一般较小，缺陷不易发现，需要通过放大镜进行放大观察。

发明内容

发明目的：为了克服现有技术中存在的不足，本实用新型提供一种半导体高倍放大镜检测设备，方便观察及发现半导体零件上的缺陷，结构简单，使用方便。

技术方案：为实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种半导体高倍放大镜检测设备，包括底座和设置在所述底座上的检测台，所述检测台上设置有夹持机构，所述底座上相邻检测台设置有伸缩机构，所述伸缩机构沿垂直于底座的方向上、下伸缩设置，所述伸缩机构的端部阻尼铰接设置有支撑杆，所述支撑杆伸向检测台，所述支撑杆的端部设置有高倍放大镜，所述高倍放大镜位于检测台的上方；所述伸缩机构的底部设置有滑动位移机构，所述伸缩机构通过滑动位移机构向检测台滑动位移设置。

进一步的，所述夹持机构包括固定杆和夹持杆，所述固定杆通过球铰结构阻尼铰接设置在检测台上，所述夹持杆为镊子状结构，所述夹持杆的连接部阻尼铰接设置在固定杆的顶端，所述夹持杆绕固定杆上、下摆动设置。

进一步的，所述夹持杆的两个夹持臂为弧形结构，且两个夹持臂的内凹面相对设置，两个所述夹持臂的夹持端部为扁平式结构，且两个所述夹持端部相互贴合接触设置；两个所述夹持端部的相对面上设置有波浪纹沟槽结构。

进一步的，所述检测台上表面凹设有增亮腔，所述增亮腔的开口侧设置有透明材质的载物板，所述增亮腔沿四周侧壁环形开设有灯具安装槽，所述灯具安装槽内设置有若干LED灯，若干所述LED灯等距间隔分布设置在增亮腔的四周。

进一步的，所述灯具安装槽横向方向的深度大于LED灯灯珠的长度。

进一步的，所述增亮腔内设置有若干遮光片，所述遮光片架设在载物板的下方，若干所述遮光片上分别设置有销轴，且若干所述遮光片分别通过销轴转动设置在增亮腔内，所述销轴的一端转动设置在增亮腔的侧壁上，且另一端穿过检测台的壁体伸出到检测台外部，所述检测台上开设有与销轴对应的销孔。

有益效果：本实用新型通过夹持装置夹持半导体零件，通过调节放大镜的角度及位置观察半导体零件，从而发现缺陷，而且夹持结构简单方便，可随时调整零件的夹持位置及夹持角度等，同时，通过在检测台上设置增亮腔，使待检测的半导体位于较明亮的位置区域，提升观察检测的可视性能。

附图说明

附图1为本实用新型的整体结构示意图；

附图2为本实用新型的检测台结构的俯视图；

附图3为本实用新型的检测台结构的半剖示意图。

具体实施方式