[实用新型]一种半导体高倍放大镜检测设备

权利要求书

1.一种半导体高倍放大镜检测设备，其特征在于：包括底座(1)和设置在所述底座(1)上的检测台(6)，所述检测台(6)上设置有夹持机构(5)，所述底座(1)上相邻检测台(6)设置有伸缩机构(2)，所述伸缩机构(2)沿垂直于底座(1)的方向上、下伸缩设置，所述伸缩机构(2)的端部阻尼铰接设置有支撑杆(3)，所述支撑杆(3)伸向检测台，所述支撑杆(3)的端部设置有高倍放大镜(4)，所述高倍放大镜(4)位于检测台(6)的上方；所述伸缩机构(2)的底部设置有滑动位移机构，所述伸缩机构(2)通过滑动位移机构向检测台(6)滑动位移设置。

2.根据权利要求1所述的一种半导体高倍放大镜检测设备，其特征在于：所述夹持机构(5)包括固定杆(14)和夹持杆(12)，所述固定杆(14)通过球铰结构阻尼铰接设置在检测台(6)上，所述夹持杆(12)为镊子状结构，所述夹持杆(12)的连接部阻尼铰接设置在固定杆(14)的顶端，所述夹持杆(12)绕固定杆上、下摆动设置。

3.根据权利要求2所述的一种半导体高倍放大镜检测设备，其特征在于：所述夹持杆(12)的两个夹持臂(20)为弧形结构，且两个夹持臂(20)的内凹面相对设置，两个所述夹持臂(20)的夹持端部(21)为扁平式结构，且两个所述夹持端部(21)相互贴合接触设置；两个所述夹持端部(21)的相对面上设置有波浪纹沟槽结构。

4.根据权利要求1所述的一种半导体高倍放大镜检测设备，其特征在于：所述检测台(6)上表面凹设有增亮腔(15)，所述增亮腔(15)的开口侧设置有透明材质的载物板(10)，所述增亮腔(15)沿四周侧壁环形开设有灯具安装槽(16)，所述灯具安装槽(16)内设置有若干LED灯(17)，若干所述LED灯(17)等距间隔分布设置在增亮腔(15)的四周。

5.根据权利要求4所述的一种半导体高倍放大镜检测设备，其特征在于：所述灯具安装槽(16)横向方向的深度大于LED灯(17)灯珠的长度。

6.根据权利要求4所述的一种半导体高倍放大镜检测设备，其特征在于：所述增亮腔(15)内设置有若干遮光片(11)，所述遮光片(11)架设在载物板(10)的下方，若干所述遮光片(11)上分别设置有销轴(13)，且若干所述遮光片(11)分别通过销轴(13)转动设置在增亮腔(15)内，所述销轴(13)的一端转动设置在增亮腔(15)的侧壁上，且另一端穿过检测台(6)的壁体伸出到检测台(6)外部，所述检测台上开设有与销轴(13)对应的销孔。