[实用新型]一种光学膜检测上料装置

说明书

本实用新型公开一种光学膜检测上料装置，包括机架、动力滚筒线机构、上料机械臂、X向导轨和Y向导轨，所述机架的两端设有X向导轨，所述Y向导轨的两端活动安装在X向导轨上，所述上料机械臂通过滑动支架活动安装在Y向导轨上，所述上料机械臂上设有产品盒上料爪和保护膜片上料爪，所述机架的下方设有动力滚筒线机构，所述动力滚筒线机构包括第一上料动力滚筒线、第一上料台和第二上料动力滚筒线，所述第一上料动力滚筒线、第二上料动力滚筒线对称分布于第一上料台的两侧，使用动力滚筒线完成光学膜产品盒的流入与流出，并利用机械手分别对产品盒和保护膜片进行抓取，实现光学膜产品的检测的自动化上料作业，能够提高生产效率。

【技术领域】

本实用新型涉及光学膜自动缺陷检测辅助设备的技术领域，特别是一种光学膜检测上料装置的技术领域。

【背景技术】

光学膜由薄的分层介质构成的，通过界面传播光束的一类光学介质材料。光学膜的应用始于20世纪30年代。现代，光学膜已广泛用于光学和光电子技术领域，制造各种光学仪器。主要的光学膜器件包括反射膜、减反射膜、偏振膜、干涉滤光片和分光镜等等。

它们在国民经济和国防建设中得到了广泛的应用，获得了科学技术工作者的日益重视。例如采用减反射膜后可使复杂的光学镜头的光通量损失成十倍地减小；采用高反射比的反射镜可使激光器的输出功率成倍提高；利用光学膜可提高硅光电池的效率和稳定性。最简单的光学膜模型是表面光滑、各向同性的均匀介质薄层。在这种情况下，可以用光的干涉理论来研究光学膜的光学性质。当一束单色平面波入射到光学膜上时，在它的两个表面上发生多次反射和折射，反射光和折射光的方向由反射定律和折射定律给出，反射光和折射光的振幅大小则由菲涅耳公式确定。

光学膜的特点是：表面光滑，膜层之间的界面呈几何分割；膜层的折射率在界面上可以发生跃变，但在膜层内是连续的；可以是透明介质，也可以是吸收介质；可以是法向均匀的，也可以是法向不均匀的。实际应用的薄膜要比理想薄膜复杂得多。这是因为：制备时，薄膜的光学性质和物理性质偏离大块材料，其表面和界面是粗糙的，从而导致光束的漫散射；膜层之间的相互渗透形成扩散界面；由于膜层的生长、结构、应力等原因，形成了薄膜的各向异性；膜层具有复杂的时间效应。

由于光学膜产品检测难度高，对相机、光源以及相关的硬件设备都有相当高的要求，因此目前生产光学膜产品的企业大多仍然采用人工的方式进行上下料，这种方式已然不能满足工业自动化快速生产的需求，工人劳动强度大，效率低，因此提出一种光学膜检测上料装置。

【实用新型内容】

本实用新型的目的就是解决现有技术中检测光学膜需要利用人工的方式进行上下料，这种方式劳动强度大，效率低，提出一种光学膜检测上料装置，可以实现光学膜产品的全自动上下料操作，有效的提高生产效率。

为实现上述目的，本实用新型提出了一种光学膜检测上料装置，包括机架、动力滚筒线机构、上料机械臂、X向导轨和Y向导轨，所述机架的两端设有X向导轨，所述Y向导轨的两端活动安装在X向导轨上，所述上料机械臂通过滑动支架活动安装在Y向导轨上，所述上料机械臂上设有产品盒上料爪和保护膜片上料爪，所述机架的下方设有动力滚筒线机构，所述动力滚筒线机构包括第一上料动力滚筒线、第一上料台和第二上料动力滚筒线，所述第一上料动力滚筒线、第二上料动力滚筒线对称分布于第一上料台的两侧，所述第一上料台的后侧设有保护膜放置区。

作为优选，所述产品盒上料爪包括定位短爪和支撑长爪，所述定位短爪呈对称分布，所述定位短爪的动力来自于真空发生器，所述支撑长爪呈对称分布，所述支撑长爪的动力来自于气缸，所述支撑长爪的下端设有内折翻边，利用真空发生器与气缸的吸气和放气，实现产品盒上料爪的手抓开合与关闭。