[实用新型]一种倒装焊芯片的封装结构有效
| 申请号: | 201820076065.8 | 申请日: | 2018-01-17 |
| 公开(公告)号: | CN207765435U | 公开(公告)日: | 2018-08-24 |
| 发明(设计)人: | 李宗亚;仝良玉;彭双 | 申请(专利权)人: | 无锡中微高科电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/29;H01L23/373 |
| 代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 殷红梅 |
| 地址: | 214035 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 倒装焊 芯片 封装结构 有机基板 包封料 金属层 本实用新型 填充料 半导体封装技术 封装表面 间隙填充 耐湿特性 散热能力 芯片焊接 焊球 覆盖 | ||
本实用新型属于半导体封装技术领域,涉及一种倒装焊芯片的封装结构,包括倒装焊芯片、有机基板、填充料、包封料、金属层和焊球,其特征在于,所述倒装焊芯片焊接在有机基板上,且倒装焊芯片和有机基板的间隙填充有填充料,所述倒装焊芯片周围包裹有包封料,所述包封料和倒装焊芯片上面覆盖有金属层;本实用新型提供的封装结构,该结构可以对芯片提供保护,同时通过封装表面的金属层,增强封装结构的耐湿特性,提高芯片的散热能力。
技术领域
本实用新型涉及一种封装结构,尤其是一种倒装焊芯片的封装结构,属于集成电路制造技术领域。
背景技术
随着集成电路芯片集成度的提高,大规模、多引出端的芯片多采用倒装焊(FC)的形式。常规的FC塑封电路,通常不会对芯片进行包封保护,外部环境可能会对芯片造成机械损伤;其次,由于塑封材料的吸水特性,塑封电路的耐湿性能也是影响电路可靠性的重要因素;对于大功耗芯片,塑料封装的散热性能也极为关键。
发明内容
本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足,本实用新型提供一种倒装焊芯片的封装结构,该结构可以对芯片提供保护,同时通过封装表面的金属层,增强封装的耐湿特性,提高芯片的散热能力。
为实现以上技术目的,本实用新型采用的技术方案是:一种倒装焊芯片的封装结构,包括倒装焊芯片、有机基板、填充料、包封料、金属层和焊球,其特征在于,所述倒装焊芯片焊接在有机基板上,且倒装焊芯片和有机基板的间隙填充有填充料,所述倒装焊芯片周围包裹有包封料,所述包封料和倒装焊芯片上面覆盖有金属层。
进一步地,所述有机基板下面焊接有若干个用于实现板级连接的焊球。
进一步地,所述焊球的材料为含铅焊料或无铅焊料。
进一步地,所述填充料和包封料的材料分别为环氧树脂。
进一步地,所述金属层与倒装焊芯片的背面接触。
进一步地,所述金属层为一层或多层金属,且金属层覆盖于封装结构的上表面或侧面。
从以上描述可以看出,本实用新型的技术效果在于:
1)与传统封装结构相比,本实用新型包封材料对芯片四周进行包封,可以对芯片提供保护;
2)该封装结构的封装表面为金属层,一方面可以增强封装的耐湿能力,同时也可以提高芯片的散热能力。
附图说明
图1是本实用新型的塑料封装结构的剖视示意图。
图2是本实用新型实施例2的塑料封装结构的剖视示意图。
附图标记说明:1-倒装焊芯片,2-有机基板,3-填充料,4-包封料,5-金属层,6-焊球。
具体实施方式
下面结合具体附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
根据附图1所示,一种倒装焊芯片的封装结构,包括倒装焊芯片1、有机基板2、填充料3、包封料4、金属层5和焊球6,其特征在于,所述倒装焊芯片1焊接在有机基板2上,且倒装焊芯片1和有机基板2的间隙填充有填充料3,所述倒装焊芯片1周围包裹有包封料4,所述包封料4和倒装焊芯片1上面覆盖有金属层5,所述金属层5与倒装焊芯片1的背面接触,所述有机基板2下面焊接有若干个用于实现板级连接的焊球6,所述焊球6的材料为含铅焊料或无铅焊料,所述填充料3和包封料4的材料为环氧树脂,所述金属层5为一层或多层金属,且金属层5覆盖于封装结构的上表面。
如图2所示为金属层5覆盖于封装结构的上表面及侧面。
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