[发明专利]一种TFT阵列基板有效

专利信息
申请号: 201811647150.6 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109742088B 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 张鑫;李立胜;何鹏 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;B82Y40/00
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 tft 阵列
【权利要求书】:

1.一种TFT阵列基板,其特征在于,所述TFT阵列基板包括显示器件板和设置在所述显示器件板上的半导体层;

其中,所述半导体层的厚度小于或等于35纳米;所述半导体层包括有源岛和与所述有源岛连接的半导体走线,所述半导体走线包括离子轻掺杂区和沟道连接区,所述离子轻掺杂区的宽度小于所述有源岛的宽度。

2.根据权利要求1所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述半导体走线垂直于所述有源岛,所述有源岛的宽度小于或等于1.8微米。

3.根据权利要求2所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述沟道连接区的宽度与所述有源岛的宽度相同。

4.根据权利要求2所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述沟道连接区的宽度小于所述有源岛的宽度。

5.根据权利要求4的TFT阵列基板,其特征在于,所述离子轻掺杂区的宽度与所述沟道连接区的宽度相同。

6.根据权利要求4的TFT阵列基板,其特征在于,所述离子轻掺杂区的宽度小于所述沟道连接区的宽度。

7.根据权利要求2所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述显示器件板包括:

衬底基板;

设置在所述衬底基板上的缓冲层;

设置在所述缓冲层上的栅极绝缘层;

设置在所述栅极绝缘层上的栅极金属层;

设置在所述绝缘层上且覆盖所述栅极金属层的层间介质层;

设置在所述层间介质层上的源漏金属层;

其中,所述半导体层设置在所述缓冲层且被所述栅极绝缘层覆盖;所述半导体走线还包括搭接区,所述源漏金属层与所述搭接区接触连接。

8.根据权利要求7所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述搭接区的宽度大于所述有源岛的宽度。

9.根据权利要求7所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述栅极金属层的宽度大于所述沟道连接区的长度。

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