[发明专利]一种芯片测试光源控制系统及控制方法

说明书

本发明公开了一种芯片测试光源控制系统，包括：可调型LED光源、传输线、USB数据线、光源控制模块，该光源控制模块一端通过传输线与可调型LED光源连接，另一端通过USB数据线与电源连接、以及光源控制模块包括可调电阻；其中，光源控制模块通过调整可调电阻的电阻值而将相应的电流值输出到可调型LED光源。本发明还提供了一种芯片测试光源控制方法。该系统以及方法通过调节可调电阻的电阻值而改变可调LED光源的亮度来实现芯片测试的光源控制。

技术领域

本发明涉及芯片测试工装技术领域，并且更具体地，特别是指一种亮度可调节的芯片测试光源控制系统及控制方法。

背景技术

芯片在进行测试时需要在各种光源亮度下进行测试，传统测试方式实验日光灯提供光源或者使用手遮盖的方式全部/部分阻隔光源，使用传统方式对光源控制不精确，且效率低，特别是产品测试需要部分阻隔光源提供特定亮度是，传统手遮盖方式对人员要求极高，员工作业是较难遮盖一步到位，提供芯片特定测试所需求的亮度，对测试效率和测试准确性都造成了很大影响。

现有技术中的上述芯片测试光源亮度控制有待改进。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种芯片测试光源控制系统及控制方法，能够通过调节可调电阻的电阻值而改变可调LED光源的亮度来实现芯片测试的光源控制。

基于上述目的，本发明实施例的一方面，提供了一种芯片测试光源控制系统，包括：

可调型LED光源；

传输线；

USB数据线；

光源控制模块，该光源控制模块一端通过传输线与可调型LED光源连接，另一端通过USB数据线与电源连接；以及

光源控制模块包括可调电阻；

其中，光源控制模块通过调整可调电阻的电阻值而将相应的电流值输出到可调型LED光源。

在一些实施例中，可调型LED光源设置在测试芯片的镜头上方用于提供芯片测试所需的输出光亮度。

在一些实施例中，光源控制模块包括记忆档位模块用于记忆各亮度档位的所对应的电阻值。

在一些实施例中，记忆档位模块包括多个记忆档位。

在一些实施例中，光源控制模块通过读取各记忆档位中记忆的不同值来调整可调电阻的电阻值。

在一些实施例中，镜头下方设置有将待测芯片固定的待测芯片固定机构。

在一些实施例中，传输线用于将光源控制模块产生的电流传输至可调型LED光源。

在一些实施例中，USB数据线通过连接到电脑来提供光源控制模块和可调型LED光源的电源。

本发明实施例的另一方面还提供了一种芯片测试光源控制方法，包括以下步骤：

(1)连接光源控制系统；

(2)通过调整可调电阻的电阻值改变可调型LED光源的亮度，并将不同亮度对应的电阻值记录到记忆档位模块的不同记忆档位中；

(3)将待测芯片固定到光源控制系统，读取记忆档位模块中的记录值i；

(4)光源控制模块将可调电阻的电阻值切换到与档位的记录值i相对应的值；

(5)光源控制模块将产生的电流值通过传输线输出到可调型LED光源使其产生相应的亮度；

重复步骤(3)-(5)，读取不同的记录值，直到测试完毕。

在一些实施例中，连接光源控制系统包括：