[发明专利]一种芯片测试光源控制系统及控制方法在审
| 申请号： | 201811625776.7 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109600882A | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 张俊堂;张强;嵇杰;方正;李海峰;魏菊 | 申请（专利权）人： | 太仓思比科微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | H05B33/08 | 分类号： | H05B33/08 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 刘小峰 |
| 地址： | 215411 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光源控制模块 芯片测试 可调 可调电阻 传输线 光源控制系统 光源控制 电阻 电源连接 输出 | ||
1.一种芯片测试光源控制系统，其特征在于，包括：
可调型LED光源；
传输线；
USB数据线；
光源控制模块，所述光源控制模块一端通过所述传输线与所述可调型LED光源连接，另一端通过所述USB数据线与电源连接；以及
所述光源控制模块包括可调电阻；
其中，所述光源控制模块通过调整所述可调电阻的电阻值而将相应的电流值输出到所述可调型LED光源。
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述可调型LED光源设置在测试芯片的镜头上方，用于提供芯片测试所需的输出光亮度。
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光源控制模块包括记忆档位模块，用于记忆各亮度档位的所对应的电阻值。
4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述记忆档位模块包括多个记忆档位。
5.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述光源控制模块通过读取各记忆档位中记忆的不同值来调整所述可调电阻的电阻值。
6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述镜头下方设置有将待测芯片固定的待测芯片固定机构。
7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述传输线用于将所述光源控制模块产生的电流传输至所述可调型LED光源。
8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述USB数据线通过连接到电脑来提供所述光源控制模块和所述可调型LED光源的电源。
9.一种芯片测试光源控制方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)连接光源控制系统；
(2)通过调整可调电阻的电阻值改变可调型LED光源的亮度，并将不同亮度对应的电阻值记录到记忆档位模块的不同记忆档位中；
(3)将待测芯片固定到所述光源控制系统，读取记忆档位模块中的记录值i；
(4)所述光源控制模块将所述可调电阻的电阻值切换到与档位记录值i相对应的值；
(5)所述光源控制模块将产生的电流值通过传输线输出到所述可调型LED光源使其产生相应的亮度；
重复步骤(3)-(5)，读取不同的记录值，直到测试完毕。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，连接光源控制系统包括：
USB数据线与电源和所述光源控制模块连接，所述传输线与所述可调型LED光源和所述光源控制模块连接。
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