[发明专利]射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质

说明书

本发明公开的射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质，基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对测试仪器的测试条件参数的值进行设置，测试仪器基于这种设置对待测电子标签进行盘点，记录盘点过程中待测电子标签产生的防碰撞参数值，建立防碰撞参数值与测试条件参数取值组合的映射关系，对待测电子标签进行多次盘点，从而得到每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种，直至按照上述过程遍历测试条件参数的所有取值组合，这样就可以得到各测试条件参数取值组合与防碰撞参数相关的值的映射关系，然后基于该映射关系对待测电子标签的防碰撞性能进行评估，从而可以得到更全面、可重现、更加准确的测试结果。

技术领域

本发明涉及射频识别技术领域，更具体地说，涉及一种射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质。

背景技术

射频识别通信过程中需要解决在同一个系统中多个设备之间同时通信的碰撞问题，尤其是单个读写器与多个标签通信的碰撞问题。限于成本和功耗的因素，标签只能够提供有限的功能用于实现防碰撞机制，目前多标签的防碰撞算法主要分为基于时隙的随机性算法(Al oha)和基于二叉树的确定性算法(B i nary Tree)两大类。

现有射频识别防碰撞性能测试方法，通常是将若干个被测标签排列为二维阵列，或者将若干个被测标签和若干个基准标签混合排列为二维阵列，使用基准读写器对上述标签阵列进行盘点，通过记录基准读写器从开始盘点到盘点结束所用的时间，以及记录基准读写器盘点到的标签数量，作为防碰撞性能的测试结果。

但这类测试方法受限于基准读写器能够提供的功能，往往导致测试结果不全面，其次这类测试方法无法对防碰撞性能得出定量的测试结果，在发生盘点时间长，以及盘点数量低时，无法找到导致问题发生的根本原因，从而无法指导读写器和标签如何改进以提高防碰撞性能。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供一种射频识别防碰撞性能测试方法及测试仪器。

为实现上述目的，本发明所采用的具体技术方案如下：

一种射频识别防碰撞性能测试方法，包括：

S11：测试仪器基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对所述测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置；

S12：所述测试仪器对待测电子标签进行一次盘点；

S13：记录每次盘点过程中所述待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立所述防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系，所述防碰撞参数值包括时隙值、随机数值和链接时序值中的至少一种；

S14：针对所述测试条件参数当前的取值组合，判断其盘点次数之和是否达到预设的盘点次数总和，如是，转至S15，否则，转至S12；

S15：分别对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的每一防碰撞参数值进行统计，根据统计结果计算每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种；

S16：判断是否遍历所述测试条件参数的所有取值组合，如是，转至S17，否则，转至S11；

S17：基于各测试条件参数取值组合对应的每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种对各测试条件参数取值组合下的所述待测电子标签的防碰撞性能进行评估。

进一步地，所述测试条件参数包括前向链路基准时间、反向链路链接频率、反向链路编码方式、标签接入数目控制参数和接入帧时隙总数中的至少一种。

进一步地，所述待测电子标签的数量为多个，所述S13包括：

针对每一所述待测电子标签，分别记录每次盘点过程中该待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立该待测电子标签产生的防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系。