[发明专利]射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质

权利要求书

1.一种射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，包括：

S11：测试仪器基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对所述测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置；

S12：所述测试仪器对待测电子标签进行一次盘点；

S13：记录每次盘点过程中所述待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立所述防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系，所述防碰撞参数值包括时隙值、随机数值和链接时序值中的至少一种；

S14：针对所述测试条件参数当前的取值组合，判断其盘点次数之和是否达到预设的盘点次数总和，如是，转至S15，否则，转至S12；

S15：分别对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的每一防碰撞参数值进行统计，根据统计结果计算每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种；

S16：判断是否遍历所述测试条件参数的所有取值组合，如是，转至S17，否则，转至S11；

S17：基于各测试条件参数取值组合对应的每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种对各测试条件参数取值组合下的所述待测电子标签的防碰撞性能进行评估。

2.如权利要求1所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，所述测试条件参数包括前向链路基准时间、反向链路链接频率、反向链路编码方式、标签接入数目控制参数和接入帧时隙总数中的至少一种。

3.如权利要求1所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，所述待测电子标签的数量为多个，所述S13包括：

针对每一所述待测电子标签，分别记录每次盘点过程中该待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立该待测电子标签产生的防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系。

4.如权利要求1所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，所述待测电子标签的数量为1个。

5.如权利要求3所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，在步骤S14之前，还包括:

S131：记录每次盘点过程中所述测试仪器产生的命令次数、所述待测电子标签产生的有效响应次数和碰撞次数中的至少一种；

S132：建立所述命令次数、所述有效响应次数和所述碰撞次数中的至少一种和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系；

在步骤S15之后，且在步骤S16之前还包括：

S151：对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的所述命令次数、所述有效响应次数和所述碰撞次数中的至少一种进行累计，得到命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中的至少一种，然后转至S152；

S152：计算所述命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中的至少一种与预设的盘点次数总和的比值关系，并结合步骤S152中的比值关系以及步骤S15中得到的碰撞参数的相关值对每一待测电子标签的碰撞性能进行评估。

6.如权利要求5所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，当得到所述命令次数累计值、所述有效响应次数累计值和所述碰撞次数累计值时，所述方法还包括：

计算所述命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中至少两种累计值之间的比值关系，并根据这种比值关系对多个待测电子标签整体的防碰撞性能进行评估。

7.一种射频识别防碰撞性能测试仪器，其特征在于，包括：处理器、存储器及通信总线；

所述通信总线用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信；

所述处理器用于执行所述存储器中存储的一个或多个程序，以实现如权利要求1-6中任一项所述的射频识别防碰撞性能测试方法的步骤。

8.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如权利要求1-6 中任一项所述的射频识别防碰撞性能测试方法的步骤。