[发明专利]一种激光辐照时间检测系统及检测方法在审
申请号: | 201811600970.X | 申请日: | 2018-12-26 |
公开(公告)号: | CN111366239A | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 李雪雷;沈铖武;刘玉生;刘畅;王志乾;李建荣;蔡盛;马文家;刘绍锦 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 吴乃壮 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 辐照 时间 检测 系统 方法 | ||
本申请涉及激光检测技术领域,尤其涉及一种激光辐照检测系统及检测方法,包括:采样单元获得采样光信号,然后发送给脉冲探测及阈值调整单元,脉冲探测及阈值调整单元根据接收到的采样光信号进行高低电平的转换,以生成所述采样计时单元的指示信号,通过采样计时单元接收指示信号,并根据所述指示信号计算所述采样光信号的辐照时长。这一过程基于微控制器的数字化脉冲测量及智能通信技术实现了激光辐照时间的实时、自动测量,可大大缩短了同类应用的工作周期,减轻了工作量,便于系统集成和数据处理;预留的调整环节使系统对不同应用场景具有较强的适应性。
技术领域
本申请涉及激光检测技术领域,特别涉及一种激光辐照时间检测系统及检测方法。
背景技术
在激光损伤试验、辐照效应研究、激光加工、医学设备剂量标定等领域,经常需要对强激光辐照时间进行精密测量。目前在这方面的研究和应用大部分集中在采用示波器观察法;也就是通过事后观察数据曲线分析辐照时间,该方法通常为人工操作,并且这种方法会受存储容量的限制及触发阈值变化的影响,数据不能得到实时处理,且测量环节调整繁琐,无法满足大批量快速测量的要求。
发明内容
有鉴于此,本申请提供了一种激光辐照时间的检测系统以及检测方法,以解决现有技术中激光辐照时间的检测过程自动化程度差,不能实时测量,且效率低下的问题。
本申请实施例的第一方面提供了一种激光辐照时间的检测系统,所述激光辐照时间检测系统包括:采样单元、脉冲探测及阈值调整单元及采样计时单元;
所述采样单元用于获取采样光信号,并将所述采样光信号发送到所述脉冲探测及阈值调整单元;
所述脉冲探测及阈值调整单元分别与所述采样单元和所述采样计时单元连接,用于根据接收到的所述采样光信号进行高低电平的转换,以生成所述采样计时单元的指示信号,所述指示信号包括开始计时信号或结束计时信号;
所述采样计时单元,用于接收所示指示信号,根据所述指示信号计算所述采样光信号的辐照时长。
可选地,所述采样单元包括一取样棱镜以及与所述取样棱镜连接的探测镜头和与所述探测镜头连接的衰减片。
可选地,所述脉冲探测及阈值调整单元包括光电探测器、D/A转换器和比较器;
其中,所述光电探测器用于根据所述采样光信号的有无向所述比较器的正输入端输入探测电压;
所述比较器根据所述探测电压和所述D/A转换器输入的基准电压的关系输出高电平或低电平,以生成所述指示信号。
可选地,所述比较器根据所述探测电压和所述D/A转换器输入的基准电压的关系输出高电平或低电平,以生成所述指示信号,具体包括:
若所述比较器的正输入端输入的探测电压高于所述基准电压,则所述比较器输出高电平,以生成开始计时信号;
若所述比较器的正输入端输入的探测电压低于所述基准电压,则所述比较器输出低电平,以生成结束计时信号。
可选地,所述激光辐照时间检测系统还包括:与所述采样计时单元连接通信单元;
所述通信单元用于从所述采样计时单元获取所述辐照时长,并将所述辐照时长输出至指定位置。
可选地,所述通信单元还用于根据用户指示设置所述D/A转换器向所述比较器输入的基准电压的大小。
可选地,所述采样计时单元包括计数器、采样单片机和计时时钟,所述计算器分别与所述计时时钟和所述采样单片机相连接;
所述计数器在接收到所述开始计时信号时指示所述计时时钟开始计时;
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