[发明专利]一种激光辐照时间检测系统及检测方法在审

专利信息
申请号: 201811600970.X 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN111366239A 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 李雪雷;沈铖武;刘玉生;刘畅;王志乾;李建荣;蔡盛;马文家;刘绍锦 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 吴乃壮
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 辐照 时间 检测 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种激光辐照时间检测系统,其特征在于,所述激光辐照时间检测系统包括:采样单元、脉冲探测及阈值调整单元及采样计时单元;

所述采样单元用于获取采样光信号,并将所述采样光信号发送到所述脉冲探测及阈值调整单元;

所述脉冲探测及阈值调整单元分别与所述采样单元和所述采样计时单元连接,用于根据接收到的所述采样光信号进行高低电平的转换,以生成所述采样计时单元的指示信号,所述指示信号包括开始计时信号或结束计时信号;

所述采样计时单元,用于接收所示指示信号,根据所述指示信号计算所述采样光信号的辐照时长。

2.根据权利要求1所述的激光辐照时间检测系统,其特征在于,所述采样单元包括一取样棱镜以及与所述取样棱镜连接的探测镜头和与所述探测镜头连接的衰减片。

3.根据权利要求1所述的激光辐照时间检测系统,其特征在于,所述脉冲探测及阈值调整单元包括光电探测器、D/A转换器和比较器;

其中,所述光电探测器用于根据所述采样光信号的有无向所述比较器的正输入端输入探测电压;

所述比较器根据所述探测电压和所述D/A转换器输入的基准电压的关系输出高电平或低电平,以生成所述指示信号。

4.根据权利要求3所述的激光辐照时间检测系统,其特征在于,所述比较器根据所述探测电压和所述D/A转换器输入的基准电压的关系输出高电平或低电平,以生成所述指示信号,具体包括:

若所述比较器的正输入端输入的探测电压高于所述基准电压,则所述比较器输出高电平,以生成开始计时信号;

若所述比较器的正输入端输入的探测电压低于所述基准电压,则所述比较器输出低电平,以生成结束计时信号。

5.根据权利要求3所述的激光辐照时间检测系统,其特征在于,所述激光辐照时间检测系统还包括:与所述采样计时单元连接通信单元;

所述通信单元用于从所述采样计时单元获取所述辐照时长,并将所述辐照时长输出至指定位置。

6.根据权利要求5所述的激光辐照时间检测系统,其特征在于,所述通信单元还用于根据用户指示设置所述D/A转换器向所述比较器输入的基准电压的大小。

7.根据权利要求1或4所述的激光辐照时间检测系统,其特征在于,所述采样计时单元包括计数器、采样单片机和计时时钟,所述计算器分别与所述计时时钟和所述采样单片机相连接;

所述计数器在接收到所述开始计时信号时指示所述计时时钟开始计时;

还用于在接收到所述结束计时信号时锁存所述计时时钟的计数值,并指示所述采样单片机读取所述计数值,以根据所述计数值计算所述辐照时长。

8.根据权利要求7所述的激光辐照时间检测系统,其特征在于,所述采样单片机在接收到所述结束计时信号时锁存所述计时时钟的计数值之后,还用于复位所述计数器。

9.一种激光辐照时间检测方法,其特征在于,所述激光辐照时间检测方法包括:

获取采样光信号;

根据所述采样光信号进行高低电平的转换,以生成用于计时的指示信号,所述指示信号包括开始计时信号或结束计时信号;

根据所述开始计时信号和所述结束计时信号的生成时间计算所述采样光信号的辐照时长。

10.根据权利要求9所述的激光辐照时间检测方法,其特征在于,所述根据所述采样光信号进行高低电平的转换,以生成用于计时的指示信号包括:

将所述采样光信号转换为探测电压;

若所述比较器的正输入端输入的探测电压高于所述基准电压,则所述比较器输出高电平,以生成开始计时信号;

若所述比较器的正输入端输入的探测电压低于所述基准电压,则所述比较器输出低电平,以生成结束计时信号。

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