[发明专利]一种半导体晶圆清洗装置有效
申请号: | 201811598277.3 | 申请日: | 2018-12-26 |
公开(公告)号: | CN109671653B | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
发明(设计)人: | 朱红伟;王丽;刘少丽;王倩 | 申请(专利权)人: | 江苏纳沛斯半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;B08B3/02;B08B13/00 |
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地址: | 223002 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 清洗 装置 | ||
本发明涉及半导体晶圆工艺技术领域,具体是一种半导体晶圆清洗装置,包括框架、夹具、水箱和喷淋装置,框架左侧设置有电机,电机下侧设置有与框架轴承连接的丝杆,丝杆上设置有第一固定块,第一固定块前侧设置有夹具,丝杆下侧设置有固定板,固定板顶部左侧设置有水箱,水箱右侧设置有喷淋装置,本发明,通过设置齿轮和活动框,可以实现夹具的上下反复运动,利于加强对晶圆的清洗程度,通过设置电动导辊,可以实现晶圆旋转,利于加强清洗效果,通过设置喷淋装置,可以对晶圆进行喷淋冲洗,提高了晶圆的洁净度,同时,喷淋装置还实现了水资源的循环使用,符合绿色环保的发展理念。
技术领域
本发明涉及半导体晶圆工艺技术领域,具体是一种半导体晶圆清洗装置。
背景技术
晶圆清洗工艺对电子工业,尤其是半导体工业极其重要,在半导体器件和集成电路的制造过程中,几乎每道工序都涉及到清洗,晶圆清洗主要是去除吸附在晶圆表面的各种杂质离子,如微粒、有机物、无机金属离子等,使晶圆的表面洁净度达到一定的工艺要求,随着半导体晶圆工艺的发展,为了满足晶圆电学特性的需求,对清洗后的晶圆洁净度的要求也越来越高。
中国专利(授权公告号:CN207503923U)公开了一种半导体晶圆清洗装置,包括传送带,所述传送带的右端安装有液体容器,在液体容器的中部安装有滤网,所述传送带上横跨有固定架,且在固定架的中间安装有喷头,所述水泵和喷头通过高压软管连接在一起,且在固定架的两端设有光源,所述喷头上安装有光源感应器,但上述装置并不能对晶圆进行多角度的清洗,清洗效果不佳,而且装置无法对晶圆进行有效固定,晶圆有掉落的风险,因此,针对以上现状,迫切需要开发一种半导体晶圆清洗装置,以克服当前实际应用中的不足。
发明内容
本发明的目的在于提供一种半导体晶圆清洗装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种半导体晶圆清洗装置,包括框架、夹具、水箱和喷淋装置,所述框架左侧设置有电机,所述电机与框架螺栓连接,所述电机下侧设置有与框架轴承连接的丝杆,所述丝杆上设置有第一固定块,所述第一固定块与丝杆螺纹连接,所述第一固定块前侧设置有夹具,所述丝杆下侧设置有固定板,所述固定板与框架固定连接,所述固定板顶部左侧设置有水箱,所述水箱与固定板螺栓连接,所述水箱右侧设置有喷淋装置。
作为本发明进一步的方案:所述夹具包括活动框、齿轮、连接杆、第二固定块、电动导辊、机械爪、滑槽、滑杆和弹簧,所述齿轮设置在第一固定块前侧,所述齿轮通过第二电机驱动,所述齿轮外侧设置有活动框,所述活动框底部设置有连接杆,所述连接杆与活动框固定连接,所述连接杆两侧设置有机械爪,所述机械爪与连接杆铰接,所述连接杆底部设置有滑槽,所述滑槽与连接杆转动连接,所述机械爪内侧上端设置有滑杆,所述滑杆与机械爪之间转动连接,所述滑槽与滑杆之间设置有弹簧,所述弹簧与滑杆、弹簧与滑槽均固定连接,所述机械爪内侧下端设置有第二固定块,所述第二固定块与机械爪固定连接,所述第二固定块内侧设置有电动导辊,所述电动导辊与第二固定块转动连接。
作为本发明进一步的方案:所述喷淋装置包括进水管、集水槽、送水管、第一水泵、抽水管、回收管、回收箱、第二水泵、喷头、第三固定块和喷淋管,所述集水槽设置在水箱右侧,所述集水槽与固定板固定连接,所述集水槽下侧设置有第一水泵,所述第一水泵设置有抽水管,所述抽水管另一端与水箱固定连接,所述第一水泵右侧设置有贯穿集水槽的送水管,所述送水管远离第一水泵的一端顶部设置有第三固定块,所述第三固定块为“匚”型结构,所述第三固定块内侧设置有喷淋管,所述送水管与喷淋管固定连接,所述喷淋管内侧设置有喷头,所述喷头后端为球形结构,所述喷头与喷淋管之间通过软管连接,所述集水槽底端设置有回收管,所述回收管左侧设置有与固定板螺栓连接的回收箱,所述回收箱左侧设置有第二水泵,所述第二水泵与回收箱通过管道连接,所述第二水泵与水箱之间通过进水管连接。
作为本发明进一步的方案:所述齿轮为不完全齿轮,所述活动框内侧两端均设置有齿条,所述齿条与齿轮啮合连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造