[发明专利]具有空穴载流路径的IEGT及其构建方法有效
| 申请号: | 201811595355.4 | 申请日: | 2018-12-25 |
| 公开(公告)号: | CN111370476B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
| 发明(设计)人: | 樱井建弥;吴磊 | 申请(专利权)人: | 上海睿驱微电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/06;H01L29/423;H01L21/331 |
| 代理公司: | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 | 代理人: | 刘元霞 |
| 地址: | 201800 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 空穴 路径 iegt 及其 构建 方法 | ||
本发明公开了一种具有空穴载流路径的IEGT,该具有空穴载流路径的IEGT包括:发射极、n+型发射区、栅极、基极区、p型MOSFET管、n‑型漂移区、n+型缓冲区、p+型集电极区、以及集电极;n‑型漂移区的上方间隔设置基极区和栅极,p型MOSFET管设置在基极区,p型MOSFET管在IEGT的主沟槽栅极的导通时间期间截止,并且在主沟槽栅极的截止时间期间导通;除设置有p型MOSFET管的基极区以外的其它基极区表面的两侧设有n+型发射区,n+型发射区上方设有与n+型发射区连接的发射极;n‑型漂移区的下方设置n+型缓冲区,n+型缓冲区的下方设置p+型集电极区,p+型集电极区的下方连接集电极。本发明具有空穴载流路径的IEGT的通态电压及关断损耗均比较低。
技术领域
本发明涉及半导体领域,特别涉及一种具有空穴载流路径的注入增强型绝缘栅晶体管IEGT及其构建方法。
背景技术
绝缘栅双极型晶体管IGBT是家用电器,工业,可再生能源,UPS,铁路,电机驱动、电动汽车(EV)和混合动力电动汽车(HEV)应用等电力电子应用中使用最广泛的功率器件。由于存在双极结型晶体管,具有非常高的电流处理能力。在其结构中,大约数百安培,阻断电压为6500V,从而IGBT可以控制数百千瓦的负载,可用于许多应用。IGBT特别适用于失效工作周期,低频,高电压和负载变化,可用于机车,电动汽车和混合动力汽车。太阳能和风能等可再生能源领域的增长导致需求增加。
大功率IGBT用于风力涡轮机的电动机是变速型的,并且需要使用高功率IGBT来提高效率。随着发展中国家基础设施活动的增长,对高压机械的需求预计将增长,从而推动市场对高功率IGBT的需求。电动汽车和混合动力电动汽车中的IGBT应用包括它们在动力传动系和用于输送和控制电动机的充电器中的应用。预计EV/HEV销售将以强劲的35%左右的速度增长,并且由于二氧化碳监管的加强,电池制造能力预计将在预测期结束时增加两倍。根据市场需求,近30年来IGBT技术取得了长足发展,现在技术发展趋势仍在继续。在过去的十年中,全球领先的制造商之间竞争激烈,并且有更先进的IGBT技术发展,最新的IGBT技术已经在电动汽车和混合动力汽车的进步中完成。简而言之,EV和HEV应用的快速增长是IGBT技术发展的主要驱动力。
现有IGBT和IEGT的横截面如图1a和图1b所示。IEGT具有浮动p层,如图1a所示,并且由于没有发射极区域,该区域不能作为有源区域工作。但是,由于没有与发射极电极接触,p-浮动区域也不能通过p-浮动区域流出空穴载流子到发射极。IEGT器件结构导致浮置p基区下方的累积空穴载流子区,并且漂移层中的空穴累积区导致在发射极区侧附近的漂移层中的重空穴累积。结果,器件架构导致在n漂移区域中的重载波调制,因此实现了Vce(sat)的显着降低。但是,由于n-漂移层中的载流子存储过多,器件操作导致慢速关断操作。简而言之,IEGT可以显着降低Vce(sat),但是缓慢关闭漂移区域中大载波存储的切换时间,并且p浮区域中没有载波路径。
发明内容
有鉴于此,本发明旨在提供一种具有空穴载流路径的注入增强型绝缘栅晶体管IEGT及其构建方法,以实现通态电压及关断损耗均比较低。
具体而言,本发明提供一种具有空穴载流路径的注入增强型绝缘栅晶体管IEGT,包括:发射极、n+型发射区、栅极、基极区、p型MOSFET管、n-型漂移区、n+型缓冲区、p+型集电极区、以及集电极;所述n-型漂移区的上方间隔设置所述基极区和栅极,所述p型MOSFET管设置在所述基极区,所述p型MOSFET管在所述IEGT的主沟槽栅极的导通时间期间截止,并且在所述主沟槽栅极的截止时间期间导通;除设置有所述p型MOSFET管的所述基极区以外的其它基极区表面的两侧设有所述n+型发射区,所述n+型发射区上方设有与所述n+型发射区连接的所述发射极;
所述n-型漂移区的下方设置所述n+型缓冲区,所述n+型缓冲区的下方设置所述p+型集电极区,所述p+型集电极区的下方连接所述集电极。
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