[发明专利]阵列基板的制备方法、装置及阵列基板在审
申请号: | 201811586415.6 | 申请日: | 2018-12-24 |
公开(公告)号: | CN109817575A | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 杨凤云;卓恩宗 | 申请(专利权)人: | 惠科股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;G02F1/1368 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 非晶硅层 阵列基板 沉积 制备 栅极绝缘层 主动开关 掺杂型 金属层 两层 衬底基板 图像残留 制备装置 图形化 | ||
本发明公开了一种阵列基板的制备方法,包括以下步骤:在衬底基板上形成栅极和栅极绝缘层;在所述栅极绝缘层上依次沉积形成至少两层非晶硅层,分别为第一非晶硅层和第二非晶硅层,其中,所述第一非晶硅层的沉积速率小于所述第二非晶硅层的沉积速率;在所述第二非晶硅层上依次沉积形成掺杂型非晶硅层和金属层,并图形化所述非晶硅层、所述掺杂型非晶硅层和所述金属层,以形成阵列基板。本发明还公开了一种阵列基板以及阵列基板的制备装置。本发明通过制备具有至少两层非晶硅层的主动开关阵列基板,改善了主动开关容易出现图像残留的问题。
技术领域
本发明涉及主动开关领域,尤其涉及一种主动开关阵列基板的制备方法、装置以及阵列基板。
背景技术
液晶显示器现已成为市场主流,其工作原理是液晶在电流的驱动下会发生偏转,使光线容易通过,从而显示图像。但是液晶在受长时间的驱动后可能会被极化,造成液晶分子不能在信号电压控制下正常偏转,过一段时间后仍可以看到静止画面的痕迹,即IS现象(ImageSticking),屏幕上会长时间保持一幅或者一部分静止的画面。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种主动开关阵列基板的制备方法、阵列基板以及阵列基板的制备装置,通过制备具有至少两层非晶硅层的主动开关阵列基板,改善了主动开关容易出现图像残留的问题。
为实现上述目的,本发明提供一种阵列基板的制备方法,所述阵列基板的制备方法包括以下步骤:
在衬底基板上形成栅极和栅极绝缘层;
在所述栅极绝缘层上依次沉积形成至少两层非晶硅层,分别为第一非晶硅层和第二非晶硅层,其中,所述第一非晶硅层的沉积速率小于所述第二非晶硅层的沉积速率;
在所述第二非晶硅层上依次沉积形成掺杂型非晶硅层和金属层,并图形化所述非晶硅层、所述掺杂型非晶硅层和所述金属层,以形成所述阵列基板。
可选地,所述在所述栅极绝缘层上依次沉积形成至少两层非晶硅层,分别为第一非晶硅层和第二非晶硅层的步骤包括:
在所述栅极绝缘层上,采用第一输出功率,基于第一气流比率的H2氢气和SiH4甲硅烷气体沉积形成所述第一非晶硅层;
在所述第一非晶硅层上,采用第二输出功率,基于第二气流比率的H2氢气和SiH4甲硅烷气体沉积形成所述第二非晶硅层,其中,所述第二输出功率大于所述第一输出功率,所述第二气流比率小于所述第一气流比率。
可选地,所述第一非晶硅层的层间厚度大于所述第二非晶硅层的层间厚度。
可选地,所述第一非晶硅层的层间厚度为
可选地,所述第一非晶硅层的密度大于所述第二非晶硅层的密度。
可选地,所述在所述栅极绝缘层上依次沉积形成至少两层非晶硅层,分别为第一非晶硅层和第二非晶硅层的步骤之后,还包括:
在所述第二非晶硅层上沉积形成金属层,并图形化所述非晶硅层和所述金属层,以形成所述阵列基板。
可选地,所述图形化所述非晶硅层的步骤包括:
在对所述非晶硅层进行背沟道蚀刻时,在沟道区域内蚀刻出剩余厚度范围为的所述非晶硅层。
为实现上述目的,本发明还提供一种阵列基板,所述阵列基板包括:
衬底基板、设于所述衬底基板上的栅极、设于所述衬底基板上且覆盖所述栅极的栅极绝缘层、设于所述栅极绝缘层上的非晶硅层、设于所述非晶硅层上的掺杂型非晶硅层、设于所述掺杂型非晶硅层上的金属层;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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