[发明专利]TFT阵列基板的制作方法有效
申请号: | 201811585464.8 | 申请日: | 2018-12-24 |
公开(公告)号: | CN109686698B | 公开(公告)日: | 2020-09-01 |
发明(设计)人: | 郑明丰 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | tft 阵列 制作方法 | ||
1.一种TFT阵列基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1、提供衬底基板(10),在所述衬底基板(10)上形成TFT层(20),在所述TFT层(20)上形成钝化层(30),在所述钝化层(30)上形成色阻层(40);
步骤S2、通过PFA工艺在所述色阻层(40)上形成平坦层(50),该平坦层(50)上具有缺陷(51);
步骤S3、对所述平坦层(50)上的缺陷(51)进行研磨修补以去除缺陷(51),该研磨修补会在缺陷(51)处使平坦层(50)及色阻层(40)磨破以暴露出钝化层(30);
步骤S4、在暴露出的钝化层(30)上形成一层保护膜(31);
步骤S5、在所述平坦层(50)上形成一层电极薄膜(60’),对电极薄膜(60’)图案化处理形成像素电极层(60);
所述保护膜(31)的材料为彩色墨水。
2.如权利要求1所述的TFT阵列基板的制作方法,其特征在于,所述步骤S4中保护膜(31)的具体形成过程为:在暴露出的钝化层(30)上涂布一层彩色墨水,对该彩色墨水进行固化形成一层保护膜(31)。
3.如权利要求2所述的TFT阵列基板的制作方法,其特征在于,所述步骤S4中,通过紫外光照射彩色墨水进行固化。
4.如权利要求1所述的TFT阵列基板的制作方法,其特征在于,所述步骤S5中图案化处理具体过程为:在电极薄膜(60’)上涂布一层光刻胶,通过对光刻胶进行曝光及显影后,暴露出部分电极薄膜(60’),以光刻胶为遮挡对暴露的部分电极薄膜(60’)进行湿蚀刻,形成像素电极层(60),最后剥离光刻胶。
5.如权利要求4所述的TFT阵列基板的制作方法,其特征在于,所述保护膜(31)不会被用于湿蚀刻的药液所蚀刻。
6.如权利要求1所述的TFT阵列基板的制作方法,其特征在于,所述钝化层(30)的材料为氮化硅、氧化硅和氮氧化硅中的一种或多种的组合。
7.如权利要求1所述的TFT阵列基板的制作方法,其特征在于,所述缺陷(51)为颗粒物。
8.如权利要求7所述的TFT阵列基板的制作方法,其特征在于,所述步骤S3中研磨修补的具体过程为:通过胶带接触缺陷(51)表面并进行转动,将颗粒物黏附在胶带表面并带出。
9.如权利要求1所述的TFT阵列基板的制作方法,其特征在于,所述TFT层(20)包括设于所述衬底基板(10)上的栅极(21)、设于所述栅极(21)上的绝缘层(22)、设于所述绝缘层(22)上的有源层(23)以及设于所述有源层(23)上并分别与该有源层(23)两端接触的源极(24)和漏极(25);
所述像素电极层(60)通过一贯穿所述平坦层(50)、色阻层(40)及钝化层(30)的过孔(61)与漏极(25)接触。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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