[发明专利]一种基于J750的芯片测试方法有效
| 申请号： | 201811579191.6 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109444723B | 公开（公告）日： | 2020-07-24 |
| 发明（设计）人： | 杨超;刘建明;张路;王书亮;张世华 | 申请（专利权）人： | 成都华微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人： | 刘勋 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 j750 芯片 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.基于J750的芯片测试方法，其特征在于，包含以下步骤：
(1)设定测试频点列表；
(2)根据选定的频点，选择相应的可编程时钟芯片，解析其编程时序，生成符合时钟芯片编程时序的编程文件，文件格式为J750可识别的atp格式；
(3)使用J750编译工具编译生成的atp文件，生成符合J750向量格式的pat文件；
(4)建立J750程序模板，自动读取生成的pat文件，并调用J750的硬件电路产生相应的控制信号，送入可编程时钟芯片，完成对时钟芯片的初始化；
(5)按时序要求，将时钟芯片产生的高频时钟信号传输给待测器件，利用J750对待测器件进行测试；
(6)改变频点，利用时钟芯片产生改变后的频点的信号，返回步骤(2)，直至完成列表中预设的各频点的测试。
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